• 高性能除水装置『スイトール』【抜群の除水力と低騒音を実現!】 製品画像

    高性能除水装置『スイトール』【抜群の除水力と低騒音を実現!】

    PR技術資料『除水作業の5つの問題を解決する方法』進呈中!ブロア、エアー、…

    除水作業が不十分な場合、残水による臭いやカビ、段ボール箱の破損 などを防止するため、再度拭き取り作業を行っています。『スイトール』 は、抗菌入り特殊ウレタンスポンジを採用し、コンパクトで効率良い除水 が可能です。対象物の厚みを調整し、固形物のつぶれの心配もありません。 ◎技術資料『除水作業の5つの問題を解決する方法(NEW)』を進呈中です! 【特長】 ■抗菌剤入り特殊ウレタンスポン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニッコー

  • そのダマ、『解砕機 ランデルミル』がほぐして解決します! 製品画像

    そのダマ、『解砕機 ランデルミル』がほぐして解決します!

    PR原料や工程で発生するダマ(凝集塊)で困っていませんか?分解・清掃が容易…

    当社のランデルミルは、回転するローターの衝撃とせん断でパンチングスクリーンの穴径以下にダマをほぐします。 工程中に発生する二次凝集した塊状物をほぐしたり、紙袋やフレコンなど原料中のダマをほぐし生産工程をスムーズに稼働させます。 粉体処理の工程、特にふるい分け、混合、乾燥、輸送、粉砕、計量等のコンディショニングに有効です。 また、やむなく人手でほぐし作業をされている場合、機械化することで人件費...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社徳寿工作所

  • 【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察 製品画像

    【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察

    前処理から発光箇所特定まで一貫解析

    高電圧電源(2000Vまで印加可能)を用いることで、耐圧の高いダイオードに対してもブレークダウンを発生させることができます。 本事例では600V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方向に高電圧まで印加することで、ブレークダウンを発生させました。カソード電極を研磨で除去後、エミッション顕微鏡観察を行い、ブレーク...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価 製品画像

    【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

    pn判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能

    市販LSI内のNPNバイポーラトランジスタについて全景からエミッタ部の拡大まで詳細に観察が可能です。 エミッタ電極の中心を通る断面を露出させ、AFM観察、SCM測定を行った事例です。 AFM像と重ねることで、配線との位置関係がはっきりします。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例 製品画像

    【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

    ライフタイム制御サンプルのキャリア濃度分析事例紹介

    バイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例 製品画像

    【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例

    金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…

    元素分析を行う際、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。 本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。 mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】室内空気環境測定事例 製品画像

    【分析事例】室内空気環境測定事例

    室内空気中のアルデヒド・VOC(揮発性有機化合物)の分析が可能です

    トルエン、キシレン、パラジクロロベンゼン等)はシックハウス、シックスクール症候群の原因とされています。 パッシブ法によりサンプリングした室内空気中に含まれるホルムアルデヒド・トルエン濃度を分析した事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価 製品画像

    【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価

    多点マッピング測定により膜厚分布を可視化

    蛍光X線分析(XRF)では、元素分布や膜厚の簡便な評価が可能です。 本事例では、金属薄膜の評価事例として、4inchのSiウエハ上のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fund...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

    有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

    有機EL素子の長寿命化には、エレクトロマイグレーションによる劣化の評価が必要なため、電極金属成分の有機層への拡散の状態を調べることが重要です。しかしながら、陰極側から直接分析しても、陽極側からSSDP法*により分析しても、深さ方向分解能が低下し、界面から有機層への拡散を評価することは困難でした。(*SSDP法:裏面側からの分析。分析手法詳細編B0013参照。) そこで、特殊加工によって、陰極/有...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子の成分分析 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の成分分析

    Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

    XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子(図1)について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメントイオンが得られ、Slope...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛根の成分分析 製品画像

    【分析事例】毛根の成分分析

    TOF-SIMSを用いた生体成分のコレステロール・脂肪酸の可視化

    人の毛髪(抜け毛と引き抜いたもの)の毛根部をSiウェハに押し付け、転写された成分についてイメージング測定(面分析)を行いました。抜け毛は毛根の先端にのみ、■K, ●リン脂質が強い傾向が見られます。また、毛根部全体には、■CnHmCOOH(n=17~31)の脂肪酸(人の皮脂由来)、●角栓由来のアミド系成分、◆質量が500~700の含窒素有機酸、◆質量が800付近の有機物が凝集していると考えられますが...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】HAADF-STEM像とは 製品画像

    【分析事例】HAADF-STEM像とは

    HAADF-STEM:高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

    ■原理 HAADF-STEM( High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像は細く絞った電子線を試料に走査させながら当て、透過電子のうち高角に散乱したものを環状の検出器で検出することにより得られます。 ■特徴 Z2ρが大きな材料の方がより高角に散乱される ↓ 重い元素はSTEM像では暗く、HAADF-STEM像では明るい 原子量(Z)...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査 製品画像

    【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査

    高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

    発光像とIR像の重ね合わせにより、リーク箇所を顕微的視野で特定できます。クラックや静電破壊など大規模な外観異常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バンプの広域断面観察 製品画像

    【分析事例】バンプの広域断面観察

    イオンポリッシュによる断面作製で微小特定箇所の広域観察が可能です

    イオンポリッシュ(IP)法では、機械研磨法で問題となっていた加工ダメージ(界面の剥離・硬さの違いによる段差・研磨による傷など)が少ない断面の作製が可能です。加工位置精度も向上し、微小部位を含む広域断面作製も可能です。結晶の損傷が少ないため、綺麗な結晶パターンが得られます。また、機械的応力の影響がないため、内部構造を忠実に保存したまま、AES分析・SEM観察・EDX分析などにより、詳細に特定部位の断...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価 製品画像

    【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価

    高分解能EELSトモグラフィー

    トモグラフィーは、試料を連続的に傾斜させて撮影した多数の投影像をコンピュータで画像処理し、3次元的内部構造を再構成する手法です。粒子など表面積・体積の算出も可能です。 Csコレクタ付きSTEMで0~180度のEELSマップ連続傾斜像を取得することにより、鮮明な3次元(3D)元素分布を構築することが可能となります。HAADF像の苦手とする平均原子番号の近い複合材料や回折コントラストの強い結晶質など...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 1 製品画像

    【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 1

    各成分の毛髪への浸透状態を可視化

    日常生活でヘアケア剤を用いていない毛髪であるヒゲを、コンディショナーもしくはトリートメントに浸し、各浸漬条件における成分の浸透状態について調査しました。 コンディショナーに浸漬したヒゲでは、シロキサンが浸漬時間と共に毛皮質まで浸透する一方、高級脂肪酸は抜けている様子が見られました。トリートメントに浸漬したヒゲでは、含窒素有機物は毛皮質には浸透せず毛小皮(キューテクル)周辺にのみ分布している様子が...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エルゴチオネインのLC/MS分析 製品画像

    【分析事例】エルゴチオネインのLC/MS分析

    天然物由来のアミノ酸類の収率や精製レベルを評価

    ヒラタケ科の食用きのこ類に多く含まれるアミノ酸同族体であるエルゴチオネインは、高い抗酸化能を持った天然物由来の物質として食品・医療・美容分野で注目されています。最近になって化学的合成技術も確立されましたが、引き続き天然食品資源からの高効率な分離精製技術の確立が必要とされており、収率を精度良く測定して精製レベルを評価することが求められています。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

    微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能

    二次イオン質量分析法(SIMS)を用いて、市販TFT液晶ディスプレイのデータ信号配線とゲート電極配線の交差部(4μm×10μm)を、基板側から分析(SSDP-SIMS)した例を示します。 基板側から測定(SSDP-SIMS)を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜などの影響がないデータの提供が可能となります。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiO2中のアルカリ金属の深さ方向分布評価 製品画像

    【分析事例】SiO2中のアルカリ金属の深さ方向分布評価

    試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価

    SiO2中のアルカリ金属の分布を一般的な分析条件で測定すると、測定に起因する電界などの影響により、深さ方向濃度分布に変化が生じることが知られています。 MSTではSIMS測定時に試料を冷却することでアルカリ金属の濃度分布変化を抑制し、より高精度に濃度分布を評価いたします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】カーボン膜の構造評価 製品画像

    【分析事例】カーボン膜の構造評価

    構造特定・結晶性・sp3性の評価

    カーボンを構成元素とする物質にはダイヤモンド、グラファイト、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの結晶構造を持つものとダイヤモンドライクカーボン(DLC)のようにアモルファス構造のものがあります。ラマン分光法はこれらの物質の構造特定や結晶性、sp3性の評価などに有効です[1][2]。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】パワートランジスタ(DMOSFET)の拡散層評価 製品画像

    【分析事例】パワートランジスタ(DMOSFET)の拡散層評価

    ゲート・ソース層・ボディ層の位置関係がわかります

    市販パワートランジスタ(DMOSFET) について、ポリSi ゲートとn型ソース層およびp型ボディ層の形状・位置関係を調べました。 AFM像と重ねることでゲートとの位置関係も知ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察 製品画像

    【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

    Csコレクタ付STEMによる高分解能STEM観察

    ABF-STEM像(走査透過環状明視野像)により軽元素の原子位置を直接観察することができます。 HAADF-STEM像との同時取得で、より詳細な構造解析が可能となりました。 本事例では、チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラムを観察した事例をご紹介します。EDX元素分布分析を組み合わせることで、視覚的に原子の分布を明らかにすることができます。 測定法:TEM・EDX ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察

    X線CTによる観察事例

    む現象が発生することがあります。この現象が発生した電池を調査する場合、内部に溜まったガスや電解液等による反応が懸念され、加工には危険を伴うことから非破壊で内部の構造を確認する必要があります。 本事例では充放電を繰り返したリチウムイオン二次電池の内部をX線CTを用いて観察しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AFMによる毛髪表面の微細構造観察 製品画像

    【分析事例】AFMによる毛髪表面の微細構造観察

    大気中の分析により変質を抑えた定量評価が可能

    毛髪表面にあるキューティクルの状態を、AFMにより解析した事例をご紹介します。 AFM は、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。大気中で分析を行うため、有機物の変質や脱ガスなどを起こさず、試料本来の形状を評価可能です。本事例では、キューティク...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析 製品画像

    【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析

    熱異性化体を含むカテキン8種類の一斉分析事例

    販のお茶には加熱殺菌工程でそれぞれが熱異性化したカテキン(C、GC、CG、GCG)も多く含まれます。本資料では、市販の緑茶をLC/MS/MSで分析し、熱異性化体を含むカテキン8種の分離・定性を行った事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析 製品画像

    【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

    Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

    げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】消臭剤の効果測定 製品画像

    【分析事例】消臭剤の効果測定

    GC/MSにより、タバコ臭に対する消臭剤の効果を測定

    事例では、タバコ臭が付着した布を使用し、消臭剤噴霧の有無による臭気成分の差異をGC/MSで測定しました。タバコ臭は多くの成分によって構成されているため、検出されたピークの中から消臭剤によって減少したピー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価 製品画像

    【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

    凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

    取り出し面に凹凸を設けることがありますが、この凹凸が深さ方向分析における深さ分解能の劣化を招きます。 テクスチャ凹凸面に平坦化加工を施すことにより深さ分解能の劣化を抑えて深さ方向濃度分布を評価した事例と、バックサイド(基板側)から分析を行った事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価 製品画像

    【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

    球体形状試料の評価事例

    板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定 製品画像

    【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定

    SiC中積層欠陥の検出事例

    易に発生するという問題を持ちます。この欠陥の検出法の一つとして、試料を光で刺激した際に放出される光を分析するフォトルミネッセンス(PL)法があります。 マッピング測定を行い欠陥起因の発光を検出した事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価 製品画像

    【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価

    XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価

    XRFは構成元素の組成及び分布を評価する分析手法です。特徴として測定に際して特殊な前処理が不要であり、1.2mm~数cmの広範囲において、非破壊で測定できる点が挙げられます。 XRFによる元素分析事例として、薬品保存容器の高分子材料に含まれる金属成分に着目して測定を行い、保管期間中に容器表面に付着した金属汚染について調査した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価 製品画像

    【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価

    TOF-SIMSによる洗浄残渣の測定事例

    ルで洗浄した後に残った成分についてTOF-SIMSを用いて評価を行いました。口紅の成分(色素やオイルなど)について、試料間の相対比較を行うことでクレンジングオイルの種類による洗浄効果の違いを評価した事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例 製品画像

    【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例

    IC(イオンクロマトグラフ)法でアミン類の測定が可能です

    水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)は、半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC(イオンクロマトグラフ)法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    メタルアーチファクトと呼ばれる暗い線状の虚像が発生することがあり、 内部構造の測長や画像解析における妨げとなります。 本資料では試料の材質情報と物理モデルを基にCT画像再構成の最適化を行った事例をご紹介します。 本技術によりアーチファクトを低減することができ、より鮮明な内部構造評価が可能です。 測定法:X線CT、計算科学・データ解析 製品分野:電子部品、製造装置・部品、LSI・メ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 製品画像

    【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

    乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマ…

    当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価 製品画像

    【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価

    TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です

    となります。光ファイバーは、大きく分けてプラスチック製、石英製の2つがあります。本資料では、TOF-SIMSでプラスチック製光ファイバーの断面を分析することにより、コアおよびクラッドの材料を同定した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:光ファイバー・電子部品 分析目的:定性評価、有機物評価、組成分布評価 「詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂硬化剤の分析 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂硬化剤の分析

    2液性エポキシ樹脂の硬化剤成分の構造推定

    方、硬化剤の評価については、種類によっては硬化前の状態で測定する必要があります。本資料では、ポリメルカプタン硬化剤を硬化前の溶液状態で測定し、イオン化法(EI法とFI法)を併用することで構造推定した事例を紹介します。 測定法:GC/MS 製品分野:高分子材料・電子部品・日用品 分析目的:組成評価・同定・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪の三次元構造解析 製品画像

    【分析事例】毛髪の三次元構造解析

    X線CTと画像解析技術により、毛髪の定量評価が可能です

    ヘアカラーや紫外線、加齢などの影響によりダメージを受けた毛髪は構造変化が起こっており、これらの構造変化を計測することはヘアケア製品の研究開発に重要です。 本事例では、X線CTを用いて毛髪の構造を観察しました。さらに、得られたCT断面像を画像解析することで、コルテックス部分の空隙体積、キューティクル間隔をヒストグラム化しました。このように、X線CTと画像解析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価 製品画像

    【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

    X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

    X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、X線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価

    XAFSとXPSの複合解析によって高精度なバンドギャップ評価が可能

    、試料構造の制約を少なく、かつ従来よりも高精度なバンドギャップ評価が可能となりました。本手法は特に各種酸化膜・窒化膜の評価に対して有効です。 本資料では窒化シリコン(SiN)膜のバンドギャップ評価事例をご紹介します。 測定法:XAFS・XPS 製品分野:太陽電池・照明・酸化物半導体・パワーデバイス 分析目的:電子状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    います。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm~数十nmの酸化物の分布を得ることができ、イメージ分析によって空間的な分布を評価することが可能です。 測...

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  • 【分析事例】量子化学計算による有機分子のスピン結合定数の解析 製品画像

    【分析事例】量子化学計算による有機分子のスピン結合定数の解析

    NMR測定と計算の組み合わせにより分子構造の詳細な解析が可能です

    定数を評価することで複雑な構造を持つ化合物や新規化合物などの同定が可能となります。本資料では、スピン結合定数の測定値と量子化学計算による計算値との比較に基づき、フッ素化合物の立体配座について解析した事例を紹介します。配座のエネルギー計算により安定性の比較も可能です。 測定法:計算科学・AI・データ解析、NMR 製品分野:医薬品 分析目的:化学結合状態評価、構造評価 詳しくは資料をダウン...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価 製品画像

    【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価

    断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能

    表面に凹凸のある太陽電池について、凹凸の影響を避けて面内分布評価を行う方法として、断面加工試料をイメージングSIMSにより評価した事例を紹介します。断面SCMによりp+ Si層と判定された領域では、BとAlが高濃度存在することが分かりました。さらに、ラインプロファイルを用いてドーパント分布を濃度変換し、面内の不均一の度合いを数値化...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価 製品画像

    【分析事例】量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価

    電池などに用いられる有機化合物の酸化還元特性・電子状態を予測・評価

    電池性能の評価には、実験に加えシミュレーションを用いた物質の電子構造や酸化還元特性の検討が有用です。本資料では、量子化学計算によりアゾベンゼンとそのカルボン酸誘導体塩の還元電位、分子軌道計算を行った事例を紹介します。このようにシミュレーションで物質の電気化学特性を推定できます。 測定法:計算科学・AI・データ解析 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価 「詳しくは資料をダウンロ...

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  • 【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価 製品画像

    【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

    微小領域のXRD測定が可能

    照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所(1)~(3)全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所(1)ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果...

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  • 【分析事例】微小ビアのイメージ分析 製品画像

    【分析事例】微小ビアのイメージ分析

    微小領域の分布評価が可能です

    無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、Cuを充填したサンプルを分析した事例を示します。正イオン分析結果より、CuおよびSiの分布が確認できました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:LSI・メモリ・電子部品 分析目的:組成分布評価・故障解析・不良解析 詳し...

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