気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』

PRタッチパネル式で多機能！多点モニタリングシステムに対応しています

『KC-52A』は、ISO 21501-4(JIS B 9921)に適合した 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタです。 医薬品・飲料・食料品の製造工程やパッキング工程の環境管理、 半導体製造現場の環境管理、病院や医療現場の清浄度管理などに 適しています。　　　　　　　　　　　　　　 【特長】 ■粒径区分は0.3、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μm(6段階) ■パスワードの設定により...

メーカー・取り扱い企業： トスク株式会社(旧十慈フィールド)

【デモ機あり】 粉体溶解機 / 粉末溶解ポンプ

PR様々な粉体を液体中に分散・溶解が可能！　ダマや溶け残りなし・短時間処理…

粉体の液体中への分散・溶解というと、タンク内の大型撹拌機で攪拌する、もしくはハンドミキサーで小容量の攪拌を何回も繰り返す、というのが一般的かと思います。ただ、これらの方法ではダマや粉体の溶け残り、処理時間が遅い、作業者に負担がかかるなど、お悩みはありませんか？ 弊社の粉体溶解機を使用すれば粉体投入口が腰の位置にあるため、作業者の負担が軽減され効率的な作業が可能です。また、短時間で処理ができ、ダマ...

メーカー・取り扱い企業： 関西乳機株式会社

半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

1.3メガSWIRカメラ搭載！チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像でありながら、高解像画像の取得が可能。 SWI...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

【納入実績】計測・制御機器　イメージセンサ検査用 標準光源装置

半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。

CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 ...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

ELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

【マシンビジョン・近赤外】冷却カメラ『BH-70』シリーズ

高画素/高解像度で高速撮影を目的としたマシンビジョン用冷却カメラシステ…

NY製SXGAサイズのSWIRセンサー搭載モデルのBH-71IGAもラインナップ！従来のInGaAsセンサーでは行えなかった高精細な撮影を可能にしました。BITRAN独自の冷却技術により低ノイズで半導体検査用途に最適です。 撮影は付属のソフトウェアで直ぐに行えます。 また、カメラリンク通信規格を公開しているので組み込み用途にも最適。 USBケーブルでの接続時は、PythonやLabVI...

メーカー・取り扱い企業： ビットラン株式会社

高透明度のポリカーボネート製薄膜フィルター

【サンプルプレゼント】直孔性で表面補足可能！各種検査・研究に最適なメン…

ン・フィルター』の 無料サンプルをプレゼントしております。 ご希望の方は「お問い合わせ」よりお気軽にご連絡ください！ 【特長】 ■微粒子や微生物、細菌などをフィルター表面上で捕捉 ■半導体工業用超純水や生化学的検査など幅広い用途に使用可能 ■薄いフィルムでありながら強度が高いため、押し出しろ過が可能...

メーカー・取り扱い企業： 日東機器ファインテック株式会社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

non社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、ライン検査、計測、研究/解析、医療、アーカイブ、顕微鏡などの超高精度な撮像用途に好適です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

高輝度ハロゲン光源装置『YP-1501』

超精密平面検査に最適な高輝度ハロゲン光源装置！驚異的な照明にて0.2μ…

『YP-1501』は、半導体ウエハー及び液晶基盤の加工途中で最も人手が掛かる最終仕上げ面の異物、スクラッチ、研磨ムラ、ヘイズ、スリップ等の様々な欠陥検出を見るためのマイクロ観察用照明装置です。試料表面を400,000Lx以上...

メーカー・取り扱い企業： 山田光学工業株式会社

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM（透過電子顕微…

TEM（透過電子顕微鏡法）は、薄片化した試料に電子を照射し、 試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と 代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中！ 写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。 【掲載内容（一部）】 <TEM...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

1インチ干渉計『KNC-1』

生産現場での小径レンズ検査に適しています！

【仕様】 ■構成：フィゾー型レーザー干渉計 ■光源：637nm半導体レーザー ■口径：φ1インチ（φ25.4mm） ■参照レンズ性能：λ/15以上 ■外形寸法（本体）：（H）290mm×（W）100mm×（L）250mm ■重さ：約2kg ■映像出力：ノ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清原光学

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』　

最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

ボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 　およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を 　ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

極低温プローバーシステム

機械式冷凍機を搭載したプローバーステーション

当社では、半導体デバイスの温度依存性を評価する 『極低温プローバーシステム』を取り扱っております。 冷却方式として、液体窒素冷却法・液体ヘリウムリザーバー法・ 液体ヘリウムフロー法・冷凍機法の、どの方法...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーマルブロック

LHe連続フロー型光学用クライオスタット

光学的測定をサポートするLHe連続フロー型光学用クライオスタット

当社では、液体ヘリウムを連続フロー（吹き付け）させてサンプルを冷却する 『LHe連続フロー型光学用クライオスタット』を取り扱っております。 フォトルミネッセンス測定や光半導体の評価等、光学的測定をサポート。 光導入窓の大きさはφ5～φ50mmまで対応可能。 窓材質は石英ガラスが標準で、他の材質にも対応出来ます。 【基本仕様】 ■最低到達温度：4.2K以...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーマルブロック

人工知能搭載　デジタル顕微鏡『ACUMEN AI』

製品の欠陥を自動的に識別・検出します！

【検査プログラム事例】 ■細胞数量カウント ■バイアルキャップ破損識別 ■注射針キャップ未装着検出 ■微生物分類検査 ■半導体基盤不具合検出 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 山口産業株式会社

VCC-25CXPHSM / R / NIR (-F)

2500万画素、150fpsの高速フレームレートの小型CoaXPres…

度・長距離伝送といった従来機の特長はそのままに、 最速150fps(CXP-12・8bit時)の高速フレームレートを実現しており、高速移動するワークを鮮明に捉えることが可能です。 液晶・基板・半導体ウェハなどの外観検査用途、計測やロボットビジョン、ドローン搭載、研究・観察など長距離伝送を要する用途に好適です。 NIR(近赤外)モデルは、果物の打痕、不透明な容器内の容量確認、サングラスの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス