異物除去用 格子型マグネット『DGH/DGSシリーズ』

PR金属異物を吸着除去し、食品などの信頼性確保に貢献。製粉、製糖ラインなど…

『DGH/DGSシリーズ』は、ホッパー内や配管内などに取り付けることで、 格子状に並んだマグネットバーの強い磁力により、金属異物を吸着・除去できる異物除去器です。 食品生産ラインなどのコンタミ対策に貢献するほか、 溶接により作られた継ぎ目のない構造のため、クロスコンタミのリスク低減にも貢献します。 また、清掃作業の省力化のニーズに応え、さや管付きの「簡易清掃タイプ」もご用意。 さ...

メーカー・取り扱い企業： ダイカ株式会社

硫化スズナノシート（ブラック）

ガスセンサー・太陽電池などに使用可能！高配向性と低抵抗の特長を持ってい…

『硫化スズナノシート』は、P型半導体で2インチサイズの基板上に 製作することができ、高配向性と低抵抗の特長を持っています。 硫化スズ（SnS）は希少金属や有害元素を含んでおらず、硫化スズを 構成する元素も自然界に豊富に存在することから、人体や環境に 配慮した材料。 結晶色はブラックで、トランジスタ・二次電池負極材などの用途に 使用できます。 【特長】 ■P型半導体で2イ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カルコジェニック

PN判定器『PN-8LP』

サンプルにダメージを与えずに測定可能！

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ 　・レーザー光照射が可能なサイズのサンプルなら判定可能 ■測定範囲 　・PN 判定可能なサンプル抵抗率範囲 ： 0.02～5,00...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

USTRON株式会社　会社案内

自社生産ならではのスピーディかつ正確な情報を提供可能！各バッチに於いて…

USTRON株式会社は、薄膜材料、石英製品、及びその付属部品について 20数年間の生産経験を持っており、中国にある21,000m2余りの生産工場にて 各種高純度蒸着材料及びスパッタリングターゲット材料等の生産をしています。 厳しい品質管理により、各バッチに於いて安定した成膜を保証。 薄膜技術の生産・研究に専念し、日々発展する業界の中でお客様の信頼できる パートナーとして尽力してい...

メーカー・取り扱い企業： USTRON株式会社

CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

少量ウェーハに対応！研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス！ ハ…

【取扱商品】 ＊CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 ＊プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等） ＊SOIウェーハ：高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エナテック 東京本社

測定器『FLA-200』

ウエハフラットネス測定システム！

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・シリコン系エピタキシャル、イオン注入サンプル 　・化合物半導体関連（GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど） ■測定サイズ ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

測定器『SRS-2010』

カスタマイズ可能な拡がり抵抗測定器

【測定仕様】 ■測定対象：半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ：お問い合わせください ■測定範囲 　・1～10E+9(Ω) [拡がり抵抗] 　・印加電圧：10(mV)検出電流：10(pA)～10...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

接触式 抵抗測定器『WS-8800』

ウエハ搬送ロボット搭載による4探針法！全自動測定ソーター

【測定仕様】 ■測定対象：半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ：3～8インチ（または12インチ） ■測定範囲 　・抵抗率：100μ～1MΩ/cm 　・シート抵抗：1m～10MΩ/sq ※詳...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

研究開発用スパッタリング装置

高水準な仕様と豊富なオプションで様々な成膜用途に適した研究開発用スパッ…

特長 ■クリーンなサイドスパッタ方式を採用 ■ロードロック式タイプ、バッチ式タイプの2機種をご用意 ■タッチパネルで簡単な操作・成膜条件管理、メンテナンスも容易な装置コンセプト ■設置スペースを取らないコンパクトな装置 ■お客様のご要望・用途に応える豊富なオプション ■低温・高温スパッタにも対応 ■広範囲に分布が良いスパッタ源を標準搭載（±5%以内（SiO2でφ170mm以内）） ...

メーカー・取り扱い企業： 芝浦メカトロニクス株式会社

【分析事例】グラフェンの官能基の評価

熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能

グラファイトの単層品であるグラフェンは、強靭性、高導電性、高熱安定性などの優れた特性から、電池、透明電極、センサー等、幅広い分野への応用が期待されています。また製法によって表面に存在する官能基の種類や量が異なると言われており、その構造を明らかにすることは性能向上を図る上で重要なポイントとなります。 本事例では熱分解GC/MS法により、2種のグラフェンの官能基を比較した事例を紹介します。...詳し...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

非接触式 抵抗測定器『EC-80』

コンパクトで簡単操作の手動式非接触（渦電流法）抵抗測定器

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、 　　銀ナノワイヤーなど） 　・導電性薄膜関連（メタル、ITOなど） 　・...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』

広範囲レンジ対応の非接触（渦電流法）シート抵抗/抵抗率 多点測定器

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、 　　銀ナノワイヤーなど） 　・導電性薄膜関連（メタル、ITOなど） 　・...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社