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【ユーザーインタビュー】再生医療技術研究を加速させた測定装置とは
PR期待の再生医療技術ダイレクトリプログラミング研究を加速させた測定装置と…
再生医療は、アンメットメディカルニーズの高い疾患への治療法になることが期待されているが、中でも、ダイレクトリプログラミング技術は多能性幹細胞を介さず体細胞から目的の細胞に誘導でき、従来の技術に比べて時間的・経済的コストを抑えられる可能性もある。ダイレクトリプログラミングによる1型糖尿病患者の再生治療の確立を目指して研究を進める順天堂大学大学院医学研究科 難病の診断と治療研究センター(難治性疾患診断...
メーカー・取り扱い企業: シスメックス株式会社 再生医療事業分野
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PRLED光により必要な範囲の波長の光を、キセノンランプより長寿命でかつ安…
『G2009B1』は、小面積セルの太陽電池特性評価に好適な ソーラーシミュレーターです。 AM1.5Gの太陽光スペクトルを高精度に再現し、自然光に限りなく近い 精度を実現しています。 太陽電池の効率測定や光起電力デバイスの研究に活用できます。 【特長】 ■直径15mmのエリアでクラスAAAのスペクトル性能、直径25mmのエリアで クラスABAのスペクトル性能(IEC規格...
メーカー・取り扱い企業: 重松貿易株式会社 大阪本社
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TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定視野となりますが、ステージを動かしながら測定することで、広域の分布評価を行えます。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:デバイス、ディスプレイ、電子部品、製造装置 分析目的:定性、イメージング...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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2液性エポキシ樹脂の硬化剤成分の構造推定
剤や塗料、レジンとして広く利用されています。その定性分析において、溶媒に不溶である硬化後の樹脂は、熱分解GC/MSで主に主剤を評価できます。一方、硬化剤の評価については、種類によっては硬化前の状態で測定する必要があります。本資料では、ポリメルカプタン硬化剤を硬化前の溶液状態で測定し、イオン化法(EI法とFI法)を併用することで構造推定した事例を紹介します。 測定法:GC/MS 製品分野:高分子...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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対象の成分についてオーダーメイドの分析法を開発します!
MSTでは、お客様のご要望によって分析法の検討・開発からご依頼を受託することが可能です。本例では、水中の農薬成分の一斉分析法の開発を行いました。従来、農薬の分析は成分ごとに前処理や測定法が分かれ煩雑です。複数の成分が一度に測定可能であれば、試料量や分析コストを抑えることができ、より効率的な分析が可能になります。本例では、前処理に固相抽出を用い、測定にLC/MS/MSを用いることに...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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対象元素に応じて測定条件を選択
のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。 Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。 Pの分析(図4)ではa-Si中に多量のHが存在して質量干渉を起こすため、高質量分解能法によりH+Siを分離してPのみを検出する条件で測定を行いました。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SRA:広がり抵抗測定法
1. 斜め研磨した試料面に2探針を接触させ直下の広がり抵抗(Ω)を測定する 2. 標準試料の測定より校正曲線*)を作成し、それを用いて抵抗を比抵抗(Ω・cm)に換算するまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う *)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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IC(イオンクロマトグラフ)法でアミン類の測定が可能です
水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)は、半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC(イオンクロマトグラフ)法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多点マッピング測定により膜厚分布を可視化
蛍光X線分析(XRF)では、元素分布や膜厚の簡便な評価が可能です。 本事例では、金属薄膜の評価事例として、4inchのSiウエハ上のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fundamental Parameter)法を用いてAu膜厚を算出し、測定座標より膜厚分布の評価をするこ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価
XRFは構成元素の組成及び分布を評価する分析手法です。特徴として測定に際して特殊な前処理が不要であり、1.2mm~数cmの広範囲において、非破壊で測定できる点が挙げられます。 XRFによる元素分析事例として、薬品保存容器の高分子材料に含まれる金属成分に着目して測定...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イメージングSIMSにより微小領域・微量元素の濃度分布を可視化できます
市販品MEMSについて、BとAsの三次元イメージングSIMS測定を行いました(測定領域:75μm角、深さ:約1.5μm)。測定後のデータ処理により、任意断面・任意深さの面分布、任意領域の深さ方向分布、任意箇所のラインプロファイルの抽出が可能です。 注) イオン...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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球体形状試料の評価事例
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμmの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することが...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価
SiO2中のアルカリ金属の分布を一般的な分析条件で測定すると、測定に起因する電界などの影響により、深さ方向濃度分布に変化が生じることが知られています。 MSTではSIMS測定時に試料を冷却することでアルカリ金属の濃度分布変化を抑制し、より高精度に濃度...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。
電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈
非破壊分析の手法(超音波顕微鏡法・X線CT法)の基礎的な解説や、代表的…
た冊子を ご希望の方全員に無料でプレゼント中です。 【掲載内容(一部)】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介 ・超音波顕微鏡法 ・X線CT法 ・in situ X線CT測定 ■分析事例 ・炭素繊維強化プラスチック(CFRP)内部の繊維配向解析 ・発泡ウレタン内部の空隙率評価 ・発泡ゴムの引っ張り試験CT測定 ・電子デバイス内特異箇所の複合解析 ・...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察
大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化
高分子は組成・構造を変えることで多様な機能が発現されることが知られており、様々な製品に利用されています。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM(原子間力顕微鏡)を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ppb~pptレベルのバルク濃度を評価します
変電所などで使用可能な超高耐圧・低損失SiCパワーデバイスの開発においては低キャリア濃度の制御が必要となり、SIMS分析で極低濃度の不純物評価を行うことが有効です。 SIMS分析では多元素を同時に取得せず、不純物を1元素に限定することで極低濃度を評価することが可能です。本資料ではSiC中の不純物について従来では評価が困難であった極低濃度領域を超高感度に評価した分析事例をご紹介します。...詳しい...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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室内空気中のアルデヒド・VOC(揮発性有機化合物)の分析が可能です
住宅建材や接着剤、防腐剤等より発生するホルムアルデヒドや揮発性有機化合物(VOC:VolatileOrganic Compounds:トルエン、キシレン、パラジクロロベンゼン等)はシックハウス、シックスクール症候群の原因とされています。 パッシブ法によりサンプリングした室内空気中に含まれるホルムアルデヒド・トルエン濃度を分析した事例を紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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導結合プラズマ(ICP)を励起源として用いた無機元素分析の手法です
するため、固体分析では作製が難しい標準試料を比較的容易に調製することが可能です。そのため、溶液中の極微量な無機元素を精確に定量する場合に頻繁に用いられています。 ・高感度・低バックグラウンドな測定が可能なため、無機元素分析用装置としては最も低い含有量(ppt*あるいはサブpptレベル)を検出できます。(*:ppt:10-12g/g) ・定量分析の比較基準となる標準試料(標準溶液)の調製を柔...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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マスアレイ法により、複数のSNP(一塩基多型)を同時に解析できます
本手法は、MALDI-TOF-MSの質量分析を利用した遺伝子解析法であり、一度の測定で複数のSNP箇所の解析が可能です。最大40か所のSNPを、190サンプル同時に測定できます。 分析全体の流れとしては下記フローに準じて実施します。標的のSNP領域の質量ピークが重ならずに増幅する...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ハロゲン(F、Cl、Br)、硫黄の分析が可能です
ハロゲン(F、Cl、Br)や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。この吸収液をイオンクロマトグラフ法で測定することで、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンや硫黄含有量を測定することが出来ます。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出
、薄膜分析が可能 ・導電性材料、及び補助電極を用いることで半導体材料、絶縁物材料も分析が可能 ・質量分解能が高く、妨害イオンの除去が可能 ・水素と希ガスを除く、Li以下のほとんどの元素について測定が可能 ・同位体比測定が可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます
リートベルト解析とはXRD(X線回折法)や中性子線回折法の測定データを解析する手法の一種です。既存手法による格子定数・空間群などの同定に加え、試料の結晶構造モデル(候補)がある場合は単位格子内部の原子配置など、より詳細な結晶構造情報を得ることが可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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血液中レスベラトロールの濃度評価事例
測定法:LC/MS 製品分野:食品・医薬品 分析目的:組成評価・同定...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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特定の原子間の距離を高精度で評価可能
子核同士には双極子相互作用が働くことが知られています。この相互作用の強さは原子間の距離の6乗に反比例するため、固体NMRを用いたSEDOR法(Spin Echo DOuble Resonance)で測定することによって原子間の距離を計測することができます。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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分析を行うサンプルをMSTにお送りいただく際の送り方をまとめました。
◆ウェハ ・元素分析 枚葉ケース・FOSB・チップケースなどでお送りください。 ・有機汚染評価 できれば、同一試料を2枚ご用意いただき、測定面同士を合わせて、アルミホイル艶消し面で、二重に包んでください。 ◆微小片サンプル ピンセットでの取り扱いに注意を要する微小片サンプルはサンプルを外側から確認できる透明なチャック袋などでお送...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…
EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴があります。 ・EDXに比べて軽元素の感度が良い ・EDX...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含ま…
イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。 ・高感度(ppb~ppm) ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い(主成分元素から極微量不純物まで) ・標...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に
UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布
SiO2膜の不純物の評価
アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60(フラーレン)とGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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サンプル本来の状態を評価することが可能
■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法:SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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広域の表面形状観察が可能
走査型白色干渉計(光干渉計)は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm~4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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洗浄効果評価や汚染物質の同定が出来ます
。汚れの付着有無を調べたり、付着している成分が何かを調べるには、加熱脱着GC/MS(TD-GC/MS)が有効です。試料を高温(上限350℃)で加熱することで、付着している有機物を揮発させGC/MSで測定することができます。付着している成分の同定や洗浄前後での付着量の比較、また洗浄方法の違いによる洗浄度合いの比較をするのに有効です。 測定法:GC/MS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:組成...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM
誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化
下における誘電体層の絶縁劣化(低抵抗化)、つまり電極間ショートがあります。誘電体層内に形成される低抵抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測定(高電界)と加熱機構(高温)を組み合わせることで、温度変化に伴う誘電体材料の絶縁劣化を可視化した事例を紹介します。 測定法:SSRM(走査型拡がり抵抗顕微鏡) 製品分野:誘電体材料、コンデンサ、...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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結晶構造から活物質の劣化状態を評価
り組成や結晶構造が大きく変化して充放電特性の低下が起きることが知られています。今回はXRDやRaman分光法を用いることでそれらを評価した事例を紹介いたします。更にin situ(オペランド)XRD測定を行うことで、各充電状態(SOC:State of Charge)の結晶構造評価も可能です。 測定法: XRD・Raman・SEM, 製品分野:二次電池 分析目的:組成評価・同定、組成分布評価...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能
X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、X線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XAFSとXPSの複合解析によって高精度なバンドギャップ評価が可能
薄膜試料のバンドギャップはこれまでUV-Vis・PL・XPSなどの分析手法で測定されてきましたが、材料・膜厚・基板などの試料構造の制約から評価可能なケースが限られていました。 今回、XAFSとXPSの複合解析によって、試料構造の制約を少なく、かつ従来よりも高精度なバンドギャッ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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サンプル表面の形状変化をin situで評価
リカプロラクトン(PCL)を用いて加熱・冷却実験を行いました。ポリカプロラクトンは融点が約60℃であり、加熱により結晶状態からアモルファス状態へと変化する様子を、また冷却により再結晶化する様子を連続測定により動画観察いたしました。 測定法:AFM 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・日用品・食品 分析目的:形状評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】量子化学計算による有機分子のスピン結合定数の解析
NMR測定と計算の組み合わせにより分子構造の詳細な解析が可能です
る原子核のスピンの影響を相互に受け、その影響はスピン結合定数で示されます。このスピン結合定数を評価することで複雑な構造を持つ化合物や新規化合物などの同定が可能となります。本資料では、スピン結合定数の測定値と量子化学計算による計算値との比較に基づき、フッ素化合物の立体配座について解析した事例を紹介します。配座のエネルギー計算により安定性の比較も可能です。 測定法:計算科学・AI・データ解析、NMR...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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急冷凍+SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認! ★第…
液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどの...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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低分子-タンパク質間相互作用の有無・強弱を分析
nsfer Difference) NMRは、タンパク質と相互作用を示す低分子化合物を識別するNMRの分析法の一種で、薬剤のスクリーニング等に大きな威力を発揮します。本資料では、実際にSTD-NMR測定を用いて複数の化合物群より特定のタンパク質と相互作用を示す化合物を同定した事例を紹介します。 測定法:核磁気共鳴分光法(NMR) 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・化粧品・食品 分析目的...
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金属元素および大気成分元素の極微量分析
結晶Si太陽電池の基板成長からセル形成までの各工程で必要とされている不純物量制御のための評価法として、高感度分析による元素濃度測定をご提案します。金属元素はppb以下、Hを含む大気成分元素についてはppm以下の濃度まで計測可能です。 測定法:SIMS・ICP-MS・エッチング・解体 製品分野:太陽電池 分析目的:微量濃度...
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大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います
層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法:FIB‐TEM, SEM 表面分析:SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS その他構造評価等も可能です。 測定法:SEM・FIB・TEM・XPS・EDX 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価・形状評価・組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます
ップ内準位といったバンド構造の把握は極めて重要な評価項目となっていますが、それらを直接的かつ詳細に評価する分析手法は限られています。放射光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定例としてGaN基板のXAS・XESスペクトルをご紹介します。...
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GC/MS/NPD(窒素リン検出器)を用いた窒素化合物の分析
窒素化合物を含む試料をGCで分析する際にMS(質量分析計)とNPD(窒素リン検出器)を同時測定することによりMSではピークとして現れない成分をNPDで検出し、その保持時間からMSスペクトルを取得して成分を定性することが可能です。本事例では含窒素化合物であるトリメチルアミンが微量に含まれる試料...
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蛍光と質量の同時測定による定性分析
を連結し、蛍光を発する成分の定性を試みました。結果、無数に検出されたMSのピークから蛍光を発するピークが特定でき、さらにMSスペクトルの解析より成分の推定が行えました。FLとMSの連結により、一回の測定で蛍光成分の有無および成分の推定まで実施可能です。...
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