濃度 | イプロス医薬食品技術

PR小ロットのPB・OEMを承ります。国産原料の提供や、貴社オリジナル原料…

当社では75種類の素材を配合した植物発酵エキスの製造を行っています。分包化・瓶詰めも対応できる「ペースト」をはじめ、濃度も味もお好みで調整可能な「ドリンク」、サイズ・形を選べる「打錠」など各種取り扱っています。貴社のPB商品展開の充実にご活用いただけます。【OEM・PB供給の特長】・ペースト・ドリンク・カプセル・丸剤・打錠・粉末などの様々な形状を選択可能・試作も可能で...

メーカー・取り扱い企業：株式会社機能性食品開発研究所

シワ改善＆肌荒れ改善の新規ペプチド

PR【化粧品表示名称取得】『即時的』にしわ改善効果、肌荒れ改善効果が期待で…

『BGT(TM) TDP-1』は、シワ形成の原因に直接アタックしてシワを改善する新規ペプチド成分です。 Bio Genetic Technology LLCが独自に開発したこの革新的な抗シワポリペプチドは、13種類のアミノ酸からなる球状構造を持ち、塗布後15分以内に急速なシワ低減効果を示します。これにより、即効的なアンチエイジングを実現します。さらに、長期間の連用によって皮膚の滑らか...

メーカー・取り扱い企業：島貿易株式会社

非接触CV測定装置 Cn0CV

非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。鉄濃度測定の感度はD…

世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定！オプションにより表面抵抗測…

介します。斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI層の厚み、PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定。「SRP2000」は、プローブのコンディショニング、ベベルアングルの測定、標準サンプルのデータ入力などが全自動化し、多数サンプルの連続自動測定ができ、サンプルは最大6個同...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能！非接触・非破壊でエピ…

る薄膜評価装置です。化合物半導体材料の組成比の評価も可能。主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパント濃度”です。【主な評価・測定項目】 ■薄膜の膜厚値 ■エピ膜厚値 ■屈折率、消衰係数 ■化合物半導体の組成比 ■ドーパント濃度装置の仕様や価格については、お気軽にお問い合わせ下...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

サーフェイスチャージプロファイラー QCS2500

非接触でエピウェハの抵抗率をモニター可能！

ことができます。測定原理としてサーフェイスフォトボルテージ（ＳＰＶ）法を用いてウェハー上にパルス光を照射することによりウェハー表面電位変化を検出し、空乏層幅を測定します。強反転状態の空乏層幅が不純物濃度に比例することにより、不純物濃度測定を行い、抵抗率に換算（ASTM)します。 ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

トレンチ深さ測定装置 IR2100

トレンチ深さ測定装置

DRAMのキャパシタートレンチの深さ、CD測定、リセス測定を非接触で測定。独自技術MBIR（Model Based Infrared)により高アスペクト比のトレンチの測定が可能。また、エピ膜のドープ濃度の縦方向プロファイルの測定にも対応。 ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

高感度DLTSシステム　DLS-1000

超高感度DLTSシステム／バルク内欠陥・界面準位測定装置

主な測定・評価項目主な測定・評価項目・測定Max感度 : C=2x10-5pF for S/N=1 （温度・周波数スキャンに可変時）・トラップ濃度：Nt＜10-5INd-Na) ・I-V/C-Vプロット・捕獲断面積測定・電界依存性測定・トラップ深さ測定・Mos測定 ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

全自動拡がり抵抗測定装置　SRP2000

全自動拡がり抵抗測定装置

Profiler)装置は，斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に２探針をコンタクトさせそのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル，EPI層の厚み，PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定する装置です。 ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社