• 【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 製品画像

    【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

    乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマ…

    当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化 製品画像

    極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

    最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

    子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察 製品画像

    TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

    低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

    密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜な...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】クライオSEMについて 製品画像

    【分析事例】クライオSEMについて

    クライオ加工冷却SEM: 走査電子顕微鏡法

    液状試料の構造を観察するには、試料本来の構造を維持した状態で一連の分析をする必要があります。クライオSEMでは、試料を急速凍結して割断面を作製することで、試料構造を観察することができます。 さらにFIB加工による断面作製技術を組み合わせることで、より詳細な内部構造の情報を得ることが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察 製品画像

    【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察

    構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察

    溶成分を乳化剤の作用により分離なく混合した分散系であり、種々のエマルション技術が加工食品に広く利用されています。マヨネーズはその中でもO/W型(水中油滴型)の代表的な加工食品です。クライオFIB-SEM観察による評価を行った結果、水分・油・乳化剤などの分布を可視化することができました。拡大観察によって微細構造の評価を行うことができ、食品の滑らかさや風味などの食味評価に応用することが期待できます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】雰囲気制御&冷却下でのSEM分析 製品画像

    【分析事例】雰囲気制御&冷却下でのSEM分析

    雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM: 走査電子顕微…

    大気に暴露すると変質してしまうリチウムイオン二次電池材料や、加工・観察時の熱で変質する有機系材料等の試料は、TEM・SEMを用いて本来の構造を観察することが困難でした。 大気暴露することなく(雰囲気制御)FIB付き高分解能SEM装置で観察することで、粒子や電解質等の本来の状態を知ることが出来ます。また冷却にも対応し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析 製品画像

    SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

    SEM像の3D化でリークパスを確認

    裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice&Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice&Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 形態観察・異物分析 製品画像

    形態観察・異物分析

    問題解決のために分析専門技術者が誠意を持ってサポート!

    当社で行っている「形態観察・異物分析」についてご紹介いたします。 独自のマイクロサンプリング手法を用いた有機物及び無機物の微小異物分析、 SEMや顕微FTIRなどを用いた多層成形品(フィルムなど)の層構成観察などを 実施します。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ロンビック

  • 【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 製品画像

    【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

    深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

    深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 表面解析サービス 製品画像

    表面解析サービス

    表面解析サービス

    査計測社が取り扱う 表面解析サービスのご紹介です。 表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価 経年変化/健全性評価の観点で重要となっています 【主要設備】 ○FE-SEM/EDS分析装置  ・分析領域:深さ方向:数μm、観察視野:5×104倍  ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら    元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析 製品画像

    技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である(各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2~5 nm)。また、識別できる結晶構造が多い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202101-02 電気化学的特性評価と解体分析 製品画像

    技術情報誌 202101-02 電気化学的特性評価と解体分析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    解析 4.負極活物質(領域2)の劣化解析 5.おわりに 【図表】 表1 試作ラミネートセル構成 表2 電気化学的試験条件 図1~図15 セル、正極、負極の充放電特性 放電負極の断面SEM像、SiO粒子のSEM-EDXマップによる元素分布、活物質粒子のイオン分布...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス 製品画像

    機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス

    損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに!損傷原因を明らか…

    社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。 【損傷調査の実施方法】 ■外観観察:損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察:破断面を走査電子顕微鏡(SEM)で観察し、損傷形態を明らかにする ■ミクロ・マクロ観察:金属的な組織を観察し、問題点を明らかにする ■材質調査:化学分析を実施し、材質の妥当性を確認する ■機械試験:部材の機械試験を実施し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 技術情報誌 201907-01 全固体電池設計・開発のための分析 製品画像

    技術情報誌 201907-01 全固体電池設計・開発のための分析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    体電解質のRBS-HFS-NRAスペクトル、及びフィッティング結果 図3 TOF-SIMSによる表面コート層の被覆状態評価 図4 TEM-EDXによる表面コート層の被覆状態評価 図5 3D-SEMによる分散性評価、及び各パラメータ抽出結果 図6 3D-SEMによる活物質-固体電解質、及び活物質-空隙の接触面積定量結果...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】 製品画像

    初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

    向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・  走査型電子顕微鏡(SEM):原理、試料作製法、分析例 ・  透過型電子顕微鏡(TEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡:原理、分析例 ・ 三次元TEM:原理、分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査 製品画像

    ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査

    クレーム品・異物のトラブルの原因究明・問題解決をお手伝い!製薬会社様・…

    所有機器 ・双眼顕微鏡 ・位相差顕微鏡 ・FT-IR ・SEM-EDXなど 1974年創業で、40年以上に渡り、環境調査・分析一筋に取り組んで参りました。 製薬業界に取り巻く目まぐるしい環境変化の中で、近年当社は、製薬業界様向けの試験・分析に力を注ぎ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター

  • 分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析 製品画像

    分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

    デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

    す。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM(走査型顕微鏡法)で評価した事例をご紹介します。 測定法:EMS,SCM,SEM 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析

    Slice&Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…

    裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice&Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価 製品画像

    【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価

    大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います

    リチウムイオン二次電池負極表面を大気非暴露で評価した結果、100~200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法:FIB‐TEM, SEM 表面分析:SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS その他構造評価等も可能です。 測定法:SEM・FIB・TEM・XPS・EDX 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価・形状...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価 製品画像

    【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価

    深層学習×データ解析により、多量のデータを活用して試料特性を評価できま…

    3種類の乳酸菌を混合させた試料をSEM観察し、得られた画像から深層学習を用いて種類ごとに乳酸菌を抽出しました。さらに、データ解析を行い、乳酸菌の形状をもとに細胞周期上の存在比を求めました。 測定法:SEM、計算科学・AI・データ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察 製品画像

    【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察

    極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

    や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】冷却下での肉組織の形状観察 製品画像

    【分析事例】冷却下での肉組織の形状観察

    肉組織の形状を確認することで変色の原因を調査

    肉が『黄色く変色してしまう』原因を調査するため、正常品と変色品の肉組織に揃ってい形状の違いに着目してクライオSEM観察を行いました。液体窒素温度で凍結した試料の断面をFIBを用いて作成した後、組織を表出させた断面をSEM観察しました。 その結果、変色品では正常品と比較して肉組織の向きが同方向ることが確認され...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】化粧品塗膜の3D観察 製品画像

    【分析事例】化粧品塗膜の3D観察

    リキッドファンデーションの塗膜をマクロからミクロまで可視化

    プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよびクライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化しました。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMではさらに微視的な構造を観察することができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 「異物の成分分析・不良解析」 製品画像

    「異物の成分分析・不良解析」

    異物の成分分析・不良解析!異物混入の原因を究明しサポート

    当社は、長年の分析を活かした経験により異物混入の原因究明を分析を通してサポートしております。 SEMによる形状観察は、光学顕微鏡より焦点深度、異物の微細な情報を得ることができ、写真上にミクロンバーが表示されるため異物の大きさも計測可能です。 【事例】 ○試料外観察 ○SEMによる形状観...

    メーカー・取り扱い企業: 湖西テストラボ合同会社

  • 【資料】原薬の微細化と物性評価 製品画像

    【資料】原薬の微細化と物性評価

    エテンザミドの粒子径分布測定とSEMによる粒子形状観察

    当資料では、結晶性原薬のエテンザミドを原料とし、粒子径分布測定および SEM形状観察の結果からジェットミルの好適な粉砕条件を考察しています。 製剤の製造において、原薬の微細化および形状など物性の制御は、 錠剤の高度化(引張強度、溶解性、圧密特性)に重要な因子となり...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • 【分析事例】ソフトマテリアルの断面観察と元素分析 製品画像

    【分析事例】ソフトマテリアルの断面観察と元素分析

    クライオSEM観察-EDX分析で溶液試料の構造を直接評価

    を観察・分析するには、加工や電子線照射による温度上昇を抑え、試料本来の構造を保ったまま一連の分析を行う必要があります。 本事例では化粧品を評価サンプルとし、冷却環境を維持したまま断面FIB加工・SEM観察・EDX分析までの構造分析を行った事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 食品異物分析<データ解析> 製品画像

    食品異物分析<データ解析>

    シーンにあわせた報告書の作成が可能!状況を把握し適切な試験をご提案

    果などをもとに報告書を作成し、ご報告。 取得した画像やIRなどのデータの解析でお悩み方のために、 豊富な実績と経験で見解をまとめます。 【試験概要】 ■写真 ■IRのデータ ■SEM-EDXのデータ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社同仁グローカル

  • 食品異物分析<おまかせコース> 製品画像

    食品異物分析<おまかせコース>

    「どの調査を選んでいいかわからない」などに!適切な分析をご提案

    への報告などシーンにあわせた 報告書の作成も可能です。調査に関する要望がございましたら お知らせください。 【試験概要】 ■外観観察(推定) ■追加調査提案(+α) ・IRもしくはSEMーEDX ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社同仁グローカル

  • 食品異物分析<無機系試料> 製品画像

    食品異物分析<無機系試料>

    金属片や錆び、メッキ製品などに!異物の形状と成分の把握が可能

    当社で取り扱う「食品異物分析 無機系試料」について ご紹介いたします。 試験としては、外観観察+SEM-EDX(構成成分同定)にて対応。 EDXによる成分の同定は、測定元素のマッピング画像が取得でき、 異物の形状と成分が把握が可能。 また、社内向け資料などシーンにあわせた報告書の作成が可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社同仁グローカル

  • 加速試験向け検体保管 製品画像

    加速試験向け検体保管

    医薬品業界・健康食品業界・化粧品業界必見!データロスが極めて少なく安定…

    富山県厚生部くすり政策課)  ・水道GLP認定機関  ・ISO9001取得  ・官公庁、製薬会社様からの査察実績あり  ・主要設備(一例):ICP-MS、GC-MS、原子吸光、FT-IR、SEM-EDX等...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    図1~図14 機械処理CNF・TEMPO CNFのTEM写真 EVA/NR/TEMPO CNFのTEM写真 EVA/天然ゴム/機械処理CNFの特殊染色TEM写真 PP/CNF 20wt%のSEM像、TEM像、X線CT像と画像解析結果、3DSEM像...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202305-02 加熱in-situ TEM 製品画像

    技術情報誌 202305-02 加熱in-situ TEM

    加熱in-situ TEMを用い、半導体デバイスの熱処理中の材料の構造…

    た事例を紹介する。 【目次】 1. はじめに 2. 加熱in-situ TEMの概要と特長 3. 加熱in-situ TEMの解析事例 4. まとめ 【図表】 図1~図8 TEM像、SEM像、結晶方位解析など 示す...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定 製品画像

    技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

    水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層の…

    5の圧力に対する相対的な水銀変化量 図4 膜#1~膜#4のバブルポイント圧力と水銀透過法による圧力しきい値の関係 図5 水銀圧入法による膜#1、膜#2の細孔直径分布データ 図6 膜#2の断面SEM像...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【プロピレングリコール】※実績多数!製薬会社様、試験分析承ります 製品画像

    【プロピレングリコール】※実績多数!製薬会社様、試験分析承ります

    品質管理者必見!わずらわしい試験は、当社におまかせ下さい。当社は、富山…

    富山県厚生部くすり政策課)  ・水道GLP認定機関  ・ISO9001取得  ・官公庁、製薬会社様からの査察実績あり  ・主要設備(一例):ICP-MS、GC-MS、原子吸光、FT-IR、SEM-EDX等...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター

  • 技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術 製品画像

    技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    料 3.分析結果 4.まとめ 【図表】 図1 Ga2O3の結晶構造 図2 試料面法線方向および面内方向のX線回折スペクトル 図3 ラマンスペクトル 図4 Sn 0.1%狙い試料の表面SEM像および断面TEM像 図5 Sn 0.1%狙い試料の制限視野電子回折パターン 図6 Sn濃度のSIMS分析結果 図7 sMIM-C信号プロファイル 図8 CLスペクトル(加速電圧3kV)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【比表面積測定・粒度分布測定,etc.】受託分析 製品画像

    【比表面積測定・粒度分布測定,etc.】受託分析

    【比表面積測定・レーザー回折式粒度分布測定・画像解析式粒度分布測定】 …

    全般 ■画像解析式粒度分布測定 →JpegやBitmap等の画像もしくは写真全般 ■レーザー回折式粒度分布測定 →粉体全般 ※水以外の溶媒を御希望の方はご連絡下さい ■走査型電子顕微鏡(SEM)撮影 →粉体・成形体全般 ■ガス置換式真密度測定 →粉体・成形体全般 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マウンテック

  • 日本水処理工業株式会社 アスベスト調査採取・測定分析 製品画像

    日本水処理工業株式会社 アスベスト調査採取・測定分析

    高精度の分析結果をスピーディにお届け!現地目視調査、サンプリングから分…

    ■一般大気中・室内空気中濃度測定(6石綿濃度測定) ■低温灰化による空気中濃度測定 ■微分熱重量分析 ■天然鉱物中含有分析 ■エネルギー分散型X線分析装置搭載走査型電子顕微鏡による解析(SEM+EDX) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本水処理工業株式会社 本社

  • 理化学分析 製品画像

    理化学分析

    異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います

    C、蛍光X線 ■化合物の構造解析と同定 ・GC、GC/MS、Py-GC/MS、HPLC、LC/MS、 ・FT-IR、ラマン分光、NMR、UV、XRD ■異物分析(形態観察、表面分析) ・SEM/EDX、顕微FT-IR ■熱分析 ・DSC、TMA、TG/DTG、DTA ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クレハ分析センター

  • 二次電池正極導電助剤の分散状態評価 製品画像

    二次電池正極導電助剤の分散状態評価

    Raman分光法によるカーボンの結晶性評価

    もしくは合材として使用されています。本資料では、正極の導電助剤のカーボン種について結晶性を指標として特定し、面内分布を可視することで分散状態を評価した事例を紹介いたします。 測定法:Raman・SEM 製品分野:二次電池 分析目的:組成分布評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • アスベスト 測定・分析サービス 製品画像

    アスベスト 測定・分析サービス

    アスベスト調査など環境調査は当社にご相談ください

    【使用分析機器】 ■X線回折装置  ■位相差・分散染色顕微鏡(アナライザー/ポラライザー付) ■SEM/EDS ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 山根技研株式会社 分析センタ-

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

    Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

    電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このうち、充填度やボイドを観察する方法として完全ドライ雰囲気で加工・観察が出来るFIB-SEM観察が非常に有効です。更に三次元的な観察(Slice & View)を行うことで電極の様子を直接的に評価することが出来ます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バンプの広域断面観察 製品画像

    【分析事例】バンプの広域断面観察

    イオンポリッシュによる断面作製で微小特定箇所の広域観察が可能です

    す。加工位置精度も向上し、微小部位を含む広域断面作製も可能です。結晶の損傷が少ないため、綺麗な結晶パターンが得られます。また、機械的応力の影響がないため、内部構造を忠実に保存したまま、AES分析・SEM観察・EDX分析などにより、詳細に特定部位の断面構造を評価できます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AESの異物分析における注意点 製品画像

    【分析事例】AESの異物分析における注意点

    AES:オージェ電子分光法

    異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む場合は、その影響を強く受けてしまうことがあり注意が必要です。SEM観察時やAES測定時に異物が消失してしまった事例として、Siウエハ上のNaCl粒子について、AES分析を行った結果を示します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価 製品画像

    【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

    SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

    CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流(EBIC)を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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