• 【エコで安全!】ノンフロン汎用機器ソリューションのご紹介 製品画像

    【エコで安全!】ノンフロン汎用機器ソリューションのご紹介

    PRエコなノンフロン汎用機器へ更新しませんか?※「ノンフロンソリューション…

    サーモフィッシャーサイエンティフィックでは、 環境に配慮して冷却機能がついた機器のノンフロン化を推進しています。 オゾン層を破壊せず、地球温暖化を促さないノンフロン冷媒を使用した機器や、ペルチェ冷却機能を搭載し、 より安全なノンコンプレッサー仕様の汎用機器製品群をご紹介します。各製品の機器更新の際に、ぜひご検討ください。 ※仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。詳しくはお気軽にご相談...

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 現場環境を快適に!『暑さ対策特集』 製品画像

    現場環境を快適に!『暑さ対策特集』

    PRまだ間に合います!暑い季節の到来に備え、工場の職場改善を始めませんか

    株式会社山善が展開する暑さ対策をご紹介いたします。 エネルギー効率を向上させ、冷暖房費を削減するシーリングファンを はじめ、空調の新設/更新やエアーカーテンなど様々な対策をご用意。 当社は、職場環境改善に全力でお手伝いいたします。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■シーリングファン ■空調の新設/更新 ■エアーカーテン ■断熱シート・遮...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社山善

  • 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS) 製品画像

    表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

     二次イオン質量分析(SIMS)】 ○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • イオン注入シミュレーション 製品画像

    イオン注入シミュレーション

    ご要望のイオン種や深さ、濃度に合わせてシミュレーションが可能です。

    お客様のご要望「ご希望の深さと濃度にするにはエネルギーと注入量をどれくらいにすればよいのか」や「ご指定のエネルギーと注入量でドーパントのイオンはどのような深さ分布となるか」に対して、シミュレーションをご提供することが可能です。 (イオン注入のご依...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 分析『二次イオン質量分析』 製品画像

    分析『二次イオン質量分析』

    優れた測定が可能にする分析手法です!

    『二次イオン質量分析』は、数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して 放出される二次イオンの質量分析により、水素を含む全元素の組成分析を 行う手法です。 高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が 可能になっています。 【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • イオン注入装置のラインナップ 製品画像

    イオン注入装置のラインナップ

    エネルギーから8MeVまでの多彩な注入装置を完備しております。

    室温でのイオン注入はもちろん、世界で数社のみが対応可能な高温でのイオン注入では、トップレベルの技術力と設備を誇ります。 弊社では、チップ小片から300mm(12インチ)径ウエハまで多種多様なサンプル及び、お客様からのご要望に合わせて各種条件での注入処理が可能です。注入条件は10~8,000KeVまで、室温から高温加熱(600℃)まで、イオン種は約60種の対応が可能です。...※詳しくはPDF...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS) 製品画像

    表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    ことができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 ●詳しくはカタ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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    砒素イオン注入深さ分析

    SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。

    かなく、質量分離が困難です。 しかしシリコンと砒素の複合分子イオンを測定することによって検出下限を 2×1015 [atoms/cm3]に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー :700 [keV] ■ドーズ量 :1×1015 [atoms/cm2] ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • アルミイオン注入深さ分析 製品画像

    アルミイオン注入深さ分析

    検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…

    コンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出下限を 1E16n/cm3に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー :180keV ■ドーズ量 :1E15n/cm2 (ドーズ量は当社の RBS によって得られた値を使用) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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