カタログ | イプロス医薬食品技術

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色彩・反射/透過率・光沢・ヘーズ・濁度・色度の測定器総合カタログ

PR「分光測色色彩計・色差計」「光沢計・ミラー反射率計」「ヘーズ・分光ヘー…

当社は、様々な分野で活用される、色彩測定機を幅広く取り扱っている専門メーカーです。ただいま、製品ラインアップを多数紹介した「総合カタログ」を進呈中。固体・液体・粉体・ペレット・フィルムなどに適した分光色彩計「SE 7700」、ハーゼン色数（APHA）などを測定可能な液体測定専用器「TZ 7700」といった高性能・高品質の製品を多数収録しています。【製品カテゴリ】...
メーカー・取り扱い企業：日本電色工業株式会社
品質文書の課題14：記録用紙の発行/回収を管理したい

PR【記録用紙発行(印刷)記録と回収記録を管理可能】文書管理クラウド『Pe…

データインテグリティ規制において記録用紙の発行／回収管理が強く求められています。具体的には、以下です。 1）発行した文書へ一意の識別子を割り当て、発行者、日時および発行部数を台帳に記録する 2）記録後、書き損じや未使用を含む全ての印刷物を回収管理する上記のように、記録用紙を管理するのはかなりの手間がかかります。 Perma Documentでは、記録用紙の発行／回収管理が...

メーカー・取り扱い企業：株式会社野村総合研究所
表面分析　二次イオン質量分析（SIMS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

サンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
分析『二次イオン質量分析』

優れた測定が可能にする分析手法です！

よる深さ分解能の優れた測定が可能になっています。【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
マイクロESCAによる分析事例集

400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載…

果二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を利用してメッシュ間距離などを測ることができます。【掲載概要】 ■マイクロESCAによる分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
「ESCAによる多層膜の深さ分析」事例集

光電子分光分析装置（ESCA）を使用した多層膜の深さ分析結果を掲載！

ン酸化膜とチタン酸化膜の積層膜をESCA （Quantum-2000）によって分析した結果を掲載しております。【掲載概要】 ■ESCAによる多層膜の深さ分析の分析結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
分析装置『ESCA』

当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます！面分析も可能です。

特定して、局所的な組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。【特長】 ■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能 ■局所的な組成の分析が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

ルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
分析装置『ESCA』

当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます！

特定して、局所的な組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。【特長】 ■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能 ■局所的な組成の分析が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定事例集

化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載！

nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を掲載しています。【掲載概要】 ■深さ分解能測定の結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター