• HACCP対応「温度監視システム」※約300社以上が導入済! 製品画像

    HACCP対応「温度監視システム」※約300社以上が導入済!

    PR配線工事や電源工事は一切不要。労務効率化、フードロス回避はもちろん、冷…

    『ACALA』は、医療施設・食品工場・物流倉庫・ホテル・飲食店・小売店など、幅広い業界の温湿度管理に適応した集中監視可能な温度管理システムで、現在は約300社の事業者で導入されています。 1分毎の温度や湿度を計測したセンサは、特殊な無線通信で親機にデータを送信。親機からクラウドへのデータ転送はドコモのLTE通信を利用します。そのため、お客様側で通信環境の準備をする必要はなく、各センサと親機は...

    メーカー・取り扱い企業: タイムマシーン株式会社

  • 【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置 製品画像

    【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置

    半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置。

    CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験)や、 後工程テスト(パッケージの電気的機能試験)、R&D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...

    メーカー・取り扱い企業: 応用電機株式会社 神奈川事業部(大和工場)

  • LabVIEWスターターキット 製品画像

    LabVIEWスターターキット

    特定デバイス・センサーをLabVIEWから制御できる唯一の製品。 各…

    サーモグラフィやガルバノスキャンミラー等をLabVIEWから制御出来るVIライブラリです。 各種設定、撮像、解析機能等のVIライブラリはもちろんの事、サンプルアプリ、VIリファレンスマニュアルも標準同梱。 お客様ご自身で検査・解析システムを構築する際、大幅なコスト・時間の削減を実現します。 本スターターキットをインストールいただくだけで、その日からデータ取得が可能です。 インストールを...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イー・アイ・ソル

  • 顕微鏡システム一覧 製品画像

    顕微鏡システム一覧

    在庫販売で短納期!全品1個から販売

    エドモンド・オプティクスは、ミツトヨやオリンパスを始め、 メーカーの実体顕微鏡や倒立顕微鏡をご用意しています。 ミツトヨFS70検査用顕微鏡は、同社の無限補正対物レンズと 互換性があります。 オリンパス製実体顕微鏡は、様々なアプリケーションやシステムスペースに 対して広範なマウント構成を提供します。 エドモンド・オプティクスは、カメラや画質に影響を及ぼす振動の伝達を 最小...

    メーカー・取り扱い企業: エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 【マシンビジョン・近赤外】冷却カメラ『BH-70』シリーズ 製品画像

    【マシンビジョン・近赤外】冷却カメラ『BH-70』シリーズ

    高画素/高解像度で高速撮影を目的としたマシンビジョン用冷却カメラシステ…

    BH-70シリーズは、カメラリンク通信規格に準拠した⾼速撮影が可能な冷却カメラシステムです。冷却によるノイズの低減効果と、温度管理により温度の変化によるノイズ変動を無くしデータの再現性が向上するので計測や検査に最適です。 グローバルシャッタで動体も歪みなく撮影でき出力にリニアリティのある35mmフルサイズCMOSのBH-73MやAPS-CサイズのBH-72Mを取り揃えております。 また...

    メーカー・取り扱い企業: ビットラン株式会社

  • 2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC 製品画像

    2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC

    その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは…

    微細欠陥の検出でお困りではないですか? 【現在ご使用中の最終外観検査機についてお聞きします】 *検出に満足ですか?【YES・NO】 *虚報は少ないですか?【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇り、量産工程でも多数採用されています。 AIシステムのXAIS(ザイス)を追加す...

    メーカー・取り扱い企業: 太洋テクノレックス株式会社 本社 和歌山

  • CoaXPressカメラ マルチカメラシステム 製品画像

    CoaXPressカメラ マルチカメラシステム

    CoaXPress規格のボードを使用することで、1PCあたり最大40台…

    本システムは、8チャンネル対応のCoaXPress規格のボードを使用し VGA~5Mカメラ(1lane)なら最大8台、12~250Mカメラ(2lanes/4lanes)なら最大2台(or4台) または低画素と高画素カメラの組み合わせ…など多彩な接続が行えます。 ボードとPCの数量によっては更に多くのカメラが接続できるため、 多数のカメラを使った検査や、VR・ARデータ制作などにも活用可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光学検査装置『CE600-SE/VA/CR』 製品画像

    光学検査装置『CE600-SE/VA/CR』

    半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく!ラベル用光学検査…

    日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本CBL株式会社

  • InfraTec社製 ハイエンドサーモグラフィ ImageIR 製品画像

    InfraTec社製 ハイエンドサーモグラフィ ImageIR

    超高感度冷却式検出器(InSb/MCT)採用・3M(1920x1536…

    ドイツのInfraTec社が提供する超高感度冷却式量子型検出器を採用した高速サーモグラフィImageIRシリーズは、研究開発用途や、高速回転体の解析、電子部品発熱解析、非破壊検査、その他多彩なアプリケーションで活躍します。 QVGAから3M(1920 x 1536)のHD画素タイプまで豊富なラインナップから各種測定用途にあったモデルを選択可能で、高速同期撮影による高速微小温度差の解析に最適です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

    欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

    『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • システム型シュリーレン『SSシリーズ』 製品画像

    システム型シュリーレン『SSシリーズ』

    研究開発や検査工程に大活躍のシステム型シュリーレン!

    『SSシリーズ』は、観測空間に2回平行光が通過するWパス方式により、 屈折率が乏しい微細な密度勾配の差も高いレベルで可視化する システム型シュリーレンです。 光軸調整が簡素化されており手軽にシュリーレン撮影が可能です。 また、従来の半分以下の省スペース化を実現し、場所に苦慮しません。 【特長】 ■屈折率が乏しい微細な密度勾配の差も高いレベルで可視化可能 ■光軸調整が簡素化...

    メーカー・取り扱い企業: カトウ光研株式会社 本社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • マイクロアドバンスの高精細デジタルマイクロスコープ 製品画像

    マイクロアドバンスの高精細デジタルマイクロスコープ

    豊富なラインアップをご用意!拡大観察・検査・研究のことなら当社へお任せ…

    マイクロアドバンスは『高精細デジタルマイクロスコープ』を 豊富に取り扱っております。 高精細画像がPCで簡単撮影できる「ASシリーズ」をはじめ、低価格なのに 高性能・高品質で“快”観察を実現する「AS-M1100シリーズ」や 「AS-5210シリーズ」などをご用意。 そのほか、既存の顕微鏡をハイグレードにバージョンアップできる 顕微鏡マイクロスコープシステムなどもラインアップし...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロアドバンス

  • サブミクロンフィードバックステージコントローラ FC-111 製品画像

    サブミクロンフィードバックステージコントローラ FC-111

    100nm分解能で位置決め!リニアエンコーダによる位置フィードバックで…

    サブミクロンフィードバックステージと組み合わせて100nm分解能位置決め装置として使用できます。 ステージに内蔵されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック(フルクローズドループ)制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 そのため、再現性が必要な精密検査や研究等で使用されています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用...

    メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社

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