• 【シンポジウム開催】Annex 1改訂に伴う無菌製造の新たな基準 製品画像

    【シンポジウム開催】Annex 1改訂に伴う無菌製造の新たな基準

    PR製薬企業が考慮するポイントや最新のソリューションについてご紹介します …

    2023年8月25日に発効したEU GMP Annex 1の改訂版では、文書が大幅に拡充され、特にバリア技術に関する項目が強化されました。無菌製造プロセスにおいて製品の汚染を防ぐことが一層重視され、作業者からの汚染リスクを最小限に抑えるため、アイソレーターやRABSの導入が推奨されています。 この改訂は、世界中の製薬企業に影響を与え、無菌性を維持するための汚染管理戦略(CCS)策定が不可欠となって...

    メーカー・取り扱い企業: シンテゴンテクノロジー株式会社

  • 展示会出展「第26回シーフードショー」冷蔵・冷凍コンテナなど 製品画像

    展示会出展「第26回シーフードショー」冷蔵・冷凍コンテナなど

    PR究極の低温冷凍、THERMO KINGのSUPER FREEZERで鮮…

    当社は8月21日(水)~23日(金)まで東京ビックサイトで開催される「第26回ジャパンインターナショナルシーフードショー」に出展いたします。 ブースでは、当社が提供するThermo King社製の超低温冷凍コンテナ「Super Freezer」をご案内いたします。 ■Super Freezerの特徴 1. -70℃の超低温: 業界最高水準の-70℃対応で、鮮度を極限まで保つ。 2. 高級食材に最...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社EFインターナショナル

  • 超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置 製品画像

    超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置

    不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

    『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ナノインデンター『IND-1000』 製品画像

    ナノインデンター『IND-1000』

    圧痕を直接観察することも可能!硬度、弾性率、耐摩耗性、耐傷性などの測定…

    『IND-1000』は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などの 様々な物質の硬度や弾性率を測定するナノインデンターです。 AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察する ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 結晶欠陥検査装置『EnVision』 製品画像

    結晶欠陥検査装置『EnVision』

    非破壊/非接触!nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

    -Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ(15nm~サブミクロン)と密度(E6~E10/cm3)の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 高感度DLTSシステム DLS-1000 製品画像

    高感度DLTSシステム DLS-1000

    超高感度DLTSシステム/ バルク内欠陥・界面準位測定装置

    108 cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な測定に対応(DLS-1000)。 又、ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 【特徴】 ●高感度な汚染検出が可能 (2x108 atoms/cm3 )。 ●幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備。 ●温度、周波数スキャン、C-V特性 等の測定が可能。 ●簡単に深さ方向のプロファイル、トラップの分布状...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催 製品画像

    回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

    多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …

    ースが豊富 ■多彩な拡張オプション       ■販売実績が多数 〈 セミナー詳細 〉 ■テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明~初級編~ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00~ ・5/13(木) 16:00~ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentz...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    プソメーターの原理 ■ブリュースター角とは 〈 ウェビナーを開催いたします!※詳細 〉 ■テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明~初級編~ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00~ ・5/13(木) 16:00~ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 薄膜太陽電池パネル測定装置 製品画像

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。  - 分光エリプソ(膜厚、光学特性)  - ライフタイム測定  - シート抵抗測定  - 比抵抗測定  - ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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