• 全自動&半自動キャッパー ※PPキャップなど様々なキャップに対応 製品画像

    全自動&半自動キャッパー ※PPキャップなど様々なキャップに対応

    PR様々なキャップに対応可能な巻締機!飲料、化学薬品業界で実績がある全自動…

    吉村鉄工所の全自動&半自動キャッパーは、どちらにも対応可能で、 全自動では10~40本/分の巻締めが行え、様々なサイズのキャップに対応可能です。 溶液に応じた材質の変更や防爆仕様での製作も可能です。 飲料、化学薬品業界などで多数採用いただいております。  ★本製品は自動キャップ巻締機「E-3B(K)-O(PP;CC;SC)型」、 半自動キャップ巻締機「AF-3i-O(PP;CC;SC)型」のオ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社吉村鉄工所

  • 野菜・果物・肉・魚のスライスや千切り・ダイスカットに! 製品画像

    野菜・果物・肉・魚のスライスや千切り・ダイスカットに!

    PR1台3役の大活躍!スライス、千切り、ダイスカットが可能な万能スライサー…

    『スーパースライサーシリーズ』は、食材そのものの魅力を最大限に引き出し、新しい可能性を広げます。1台3役の大活躍、刃物の交換によりスライス、千切り、ダイスカットか可能。野菜は、食材に無理な圧力を掛けるこことなく繊維を壊さず、魚は鮮度や旨み保ったままの加工が可能、お肉のカットも鮮度や旨みを保ったまま、安全かつ衛生的に加工が出来ます。フルーツは、アイス・お菓子・ケーキ・タルト・ジャムなどにピッタリ! ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ドリマックス

  • 超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置 製品画像

    超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置

    不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

    『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ナノインデンター『IND-1000』 製品画像

    ナノインデンター『IND-1000』

    圧痕を直接観察することも可能!硬度、弾性率、耐摩耗性、耐傷性などの測定…

    『IND-1000』は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などの 様々な物質の硬度や弾性率を測定するナノインデンターです。 AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察する ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 結晶欠陥検査装置『EnVision』 製品画像

    結晶欠陥検査装置『EnVision』

    非破壊/非接触!nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

    -Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ(15nm~サブミクロン)と密度(E6~E10/cm3)の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 高感度DLTSシステム DLS-1000 製品画像

    高感度DLTSシステム DLS-1000

    超高感度DLTSシステム/ バルク内欠陥・界面準位測定装置

    108 cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な測定に対応(DLS-1000)。 又、ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 【特徴】 ●高感度な汚染検出が可能 (2x108 atoms/cm3 )。 ●幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備。 ●温度、周波数スキャン、C-V特性 等の測定が可能。 ●簡単に深さ方向のプロファイル、トラップの分布状...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催 製品画像

    回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

    多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …

    ースが豊富 ■多彩な拡張オプション       ■販売実績が多数 〈 セミナー詳細 〉 ■テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明~初級編~ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00~ ・5/13(木) 16:00~ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentz...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    プソメーターの原理 ■ブリュースター角とは 〈 ウェビナーを開催いたします!※詳細 〉 ■テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明~初級編~ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00~ ・5/13(木) 16:00~ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 薄膜太陽電池パネル測定装置 製品画像

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。  - 分光エリプソ(膜厚、光学特性)  - ライフタイム測定  - シート抵抗測定  - 比抵抗測定  - ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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