• ノンフロン横型超低温フリーザー『TDE超低温フリーザー』 製品画像

    ノンフロン横型超低温フリーザー『TDE超低温フリーザー』

    PR新たにUSBデータダウンロード機能が搭載され、頻繁な入庫や長期保管用途…

    H-Driveシステムを搭載したThermo Scientific TDEシリーズ横型超低温フリーザーは、-50 ℃から-86 ℃の範囲で温度設定でき、ドア開放後の迅速な温度回復とピーク変動に対する優れた保温機能の組み合わせにより、頻繁な入庫や長期保管用途に適しています。 【パフォーマンス】 H-driveノンフロン技術を搭載した新しい横型超低温フリーザーは、従来の代替フロン冷媒を使用した機種よ...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • IHC検証済み直接標識抗体 製品画像

    IHC検証済み直接標識抗体

    PR【自社検証済みで二次抗体不要!】多様なラインナップが揃った免疫組織化学…

    限られた組織サンプルから最大限のデータを得るためにはマルチプレックスIHCが不可欠です。弊社の直接標識抗体は、厳密に検証された業界最高水準の抗体であり、迅速に特異的な染色結果を得られます。 また、目的の標的に適した様々な交差種やAlexa Fluor(R)標識を選択できる高い柔軟性を有しています。ぜひお試しください。 ※詳細はPDFをダウンロードいただき、ご覧ください。 【プライバシーポリシー...

    メーカー・取り扱い企業: セルシグナリングテクノロジージャパン株式会社

  • 【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 製品画像

    【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

    深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

    対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法:SEM、Slice&View、計算科学・AI・デー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • データ駆動型の研究開発促進 (MI) 製品画像

    データ駆動型の研究開発促進 (MI)

    マテリアルズインフォマティクス(MI)で研究開発の効率化を実現します。

    MIとは、材料の研究・開発分野に情報科学技術を活用するアプローチのことです。 製造業などに携わるあらゆる企業や組織にて取り入れることが可能です。 既にあるデータなどを活用し、効率的な実験プロセスの実現や人間だけの知識・経験では得られない新たな知見の獲得を目指します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AFMデータ集 製品画像

    【分析事例】AFMデータ

    AFM :原子間力顕微鏡法

    詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価 製品画像

    【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価

    深層学習×データ解析により、多量のデータを活用して試料特性を評価できま…

    3種類の乳酸菌を混合させた試料をSEM観察し、得られた画像から深層学習を用いて種類ごとに乳酸菌を抽出しました。さらに、データ解析を行い、乳酸菌の形状をもとに細胞周期上の存在比を求めました。 測定法:SEM、計算科学・AI・データ解析 製品分野:バイオテクノロジ、医薬品、日用品、化粧品、食品 分析目的:形状評価...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化 製品画像

    【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化

    粉末X線回折データから結晶構造の精密化が可能です

    本資料では、リチウムイオン二次電池の正極活物質として利用されているLi(Ni,Mn,Co)O2の粉末X線回折データに対するリートベルト解析事例を紹介します。シミュレーションによって実測の粉末X線回折データを再現するような結晶構造モデルを求めることで、格子定数・各サイトの占有率・カチオンミキシングの割合などの結...

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  • SIMS分析データの再現性 製品画像

    SIMS分析データの再現性

    再現性の高い不純物量評価が可能です

    半導体デバイスの製造において、ドーパント等の不純物の制御は重要な工程となります。 イオン注入に着目した場合、僅かな差が品質や性能に影響を及ぼすため、正確な制御が必要となります。SIMS分析の高い再現性は、それらの開発・維持管理に最適です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】MSDMについて 製品画像

    【分析事例】MSDMについて

    TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法

    TOF-SIMSの深さ方向分析では平面上の位置情報(x,y)を無視すると、各深さ(z)で質量スペクトルが存在するため、深さ・質量・スペクトル強度の3次元データが得られます。この3次元データを1枚の画像として可視化したものが、MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)表示です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

    微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能

    二次イオン質量分析法(SIMS)を用いて、市販TFT液晶ディスプレイのデータ信号配線とゲート電極配線の交差部(4μm×10μm)を、基板側から分析(SSDP-SIMS)した例を示します。 基板側から測定(SSDP-SIMS)を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜など...

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  • 分析訪問セミナー 製品画像

    分析訪問セミナー

    分析のセミナーを無償にて行います!

    お客様のニーズに合わせた技術者訪問の分析セミナーを承っております。 お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。 訪問する技術者の人数・セミナー時間・内容は、ご希望に合わせてカスタマイズが可能です。 お気軽にご相談下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 量子化学計算による色素分子UV-Visスペクトルシミュレーション 製品画像

    量子化学計算による色素分子UV-Visスペクトルシミュレーション

    UV-Visスペクトルシミュレーションにより分子の電子的性質が調べられ…

    も期待されています。本資料では溶液中のピグメントレッド254を対象に量子化学計算に基づくUV-Visスペクトルシミュレーションを実施した事例を紹介します。シミュレーション結果を参照することで、実測データのスペクトル形状を解釈することができます。 測定法:計算科学・データ解析、UV-Vis 製品分野:照明、ディスプレイ、化粧品、日用品 分析目的:化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロ...

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  • リートベルト解析(Rietveld analysis)とは 製品画像

    リートベルト解析(Rietveld analysis)とは

    XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます

    リートベルト解析とはXRD(X線回折法)や中性子線回折法の測定データを解析する手法の一種です。既存手法による格子定数・空間群などの同定に加え、試料の結晶構造モデル(候補)がある場合は単位格子内部の原子配置など、より詳細な結晶構造情報を得ることが可能です。...

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  • ナノシミュレーション 製品画像

    ナノシミュレーション

    Nano-simulation

    したいとき ・各種分光スペクトルの詳細な帰属・解釈を行いたいとき ■MSTの特徴 ・計算モデルの提案から解析までワンストップでお引き受け可能 ・自社内に計算環境を保有しており、機密性の高いデータの取り扱いが可能 ・分析・AIの専門家の知見を活かしたシミュレーションが可能 ■対応計算手法 ・量子化学計算 ・第一原理計算 ・分子動力学計算 この資料では、適用例や原理、データ例など...

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  • 【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化 製品画像

    【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

    FFTM法による格子像解析

    ら結晶の微小な格子歪みを解析、可視化する方法です。FFTM解析により、(1)画像のx, y方向の格子歪みの解析、(2)結晶面方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。 化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用した例を示します。...

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  • AFM-MAによる 食品(ロースハム)の機械特性評価 製品画像

    AFM-MAによる 食品(ロースハム)の機械特性評価

    食感を機械特性パラメータで定量化

    る応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。...

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  • 【分析事例】三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察 製品画像

    【分析事例】三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察

    AFMにより、皮膚表面におけるナノスケールの凹凸を可視化

    います。本事例では、化粧品(ローション剤)の経皮吸収試験を実施した三次元培養ヒト皮膚を、AFM(原子間力顕微鏡法)で測定しました。皮膚表面の微小形状を視覚的に評価でき、また、任意の箇所の粗さを数値データで評価することも可能です。大気条件下で測定することにより、真空条件下での試料変質を抑えた観察が可能です。...

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  • 【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析 製品画像

    【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析

    加工無しで30nmサイズの組成分析が可能

    箇所のみの情報を前処理加工などを行わず簡便に調べることが可能です。また面分析を行うことで元素分布像を得ることができます。 本事例ではSiウエハ上に存在する異物について、AES分析を用いて評価したデータをご紹介します。...

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  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

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  • 【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング 製品画像

    【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング

    表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

    用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。また、ライブラリデータとの照合により、各層の成分が同定できました。...

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  • 【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 製品画像

    【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察

    大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化

    されています。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM(原子間力顕微鏡)を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。...

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  • 【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析

    Csコレクタ付STEMによる原子レベル分解能EDX分析

    たCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。 本事例ではCIGS薄膜太陽電池の光吸収層の高分解能(HR)-STEM観察とEDX元素分布分析を行ったデータを紹介します。4種類の元素からなる多結晶構造を持つCIGSにおいて、原子分解能レベルのEDX分析を行うことで、視覚的に原子の分布を明らかにすることができました。...

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  • 【分析事例】ZnO膜の組成・不純物の三次元分布評価 製品画像

    【分析事例】ZnO膜の組成・不純物の三次元分布評価

    イメージングSIMS分析により面内分布を可視化

    デバイス作成の要素の一つである膜組成の均一性と不純物の分布状態をイメージングSIMS分析により評価しました。 測定後のデータ処理により、平面イメージ(図1)・断面イメージ(図2)・任意箇所の深さ方向分布プロファイル(図3, 4)・ラインプロファイルを得ることができます。構成材料・不純物の分布から、プロセス・膜質改善に繋...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】MEMS中ドーパントの三次元分布評価 製品画像

    【分析事例】MEMS中ドーパントの三次元分布評価

    イメージングSIMSにより微小領域・微量元素の濃度分布を可視化できます

    市販品MEMSについて、BとAsの三次元イメージングSIMS測定を行いました(測定領域:75μm角、深さ:約1.5μm)。測定後のデータ処理により、任意断面・任意深さの面分布、任意領域の深さ方向分布、任意箇所のラインプロファイルの抽出が可能です。 注) イオンビームで試料を掘りながら、深さ方向にイメージを取り込みますので、破壊分...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング 製品画像

    【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング

    最大70×70mm領域の組成分布評価

    ングの事例をご紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価いたしました。ピーク強度ではなく存在量(原子濃度)をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受けにくく、且つ広域でのデータ取得が可能です。 試料表面付着物等を俯瞰的に調査することに適しています。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術 製品画像

    【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

    目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

    プを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。 さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。...

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  • AI×機器分析による異常評価事例 製品画像

    AI×機器分析による異常評価事例

    AIの異常検知精度/処理能力を活かし、異常の本質を科学的に究明します。

    異常検知は、大量のデータの中から他のパターンとは一致しないデータを見つける技術です。 製品開発や製造に異常検知を取り入れることで、品質管理などの省力化が期待されます。 さらに、機器分析を行うことで、異常の本質を科学的...

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  • 【分析事例】白色粉体の複合分析 製品画像

    【分析事例】白色粉体の複合分析

    FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定

    異物等の未知試料を分析・同定する場合、複数手法での測定結果から複合的にデータを解析することが有効です。 振動分光であるFT-IR分析と、大気中での元素分析手法であるXRF分析とを組み合わせて評価し、2種類の白色粉体の同定を行った事例をご紹介します。...

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  • X線CT法 製品画像

    X線CT法

    X-ray Computed Tomography

    試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得します。また、試料を回転させた連続撮影データから、X線CT(Computed Tomography)像を構築します。 ・非破壊で、試料の内部構造や欠陥形状などの確認が可能。 ・3D像や任意箇所での断面像を構築可能。 ・X線エネルギ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定 製品画像

    【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

    熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

    PP)などの高分子材料は、大気中で加熱されると大気中の酸素や水分と反応し、分子構造が変化します。そのため、異物や付着物が高分子材料の可能性がある場合、測定サンプルと同じ環境で処理した標準物質を比較データとして用いる必要があります。 熱処理(200℃/30分)によってPP標準物質がどのように変化するかを調べるため、FT-IR及びTOFSIMS測定を行いました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 量子化学計算による有機分子のRamanスペクトルシミュレーション 製品画像

    量子化学計算による有機分子のRamanスペクトルシミュレーション

    振動スペクトルシミュレーションによって分子構造の情報が得られます

    調合剤に用いられます。本資料ではオイゲノールとイソオイゲノールを対象として、量子化学計算によってRamanスペクトルシミュレーションを行った事例を紹介します。今回のようなシミュレーション結果を実測データと比較することで構造情報が得られ、構造異性体の識別も可能です。また、その構造の安定性や電子状態も議論することができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価 製品画像

    SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価

    ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

    詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • テープ粘着剤の構造解析|受託分析 製品画像

    テープ粘着剤の構造解析|受託分析

    熱分解GC/MS法により粘着剤の構造解析が可能

    詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 角度分解HAXPES測定 製品画像

    角度分解HAXPES測定

    HAXPES:硬X線光電子分光法

    HAXPESでは、試料表面から深い位置まで(~約50nm)の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルクの中まで進んでいるよ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ 製品画像

    非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

    樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

    加工・分析装置を導入し、非破壊分析の受託サービスを開始します。 ●X線CT X線照射により試料内部構造の二次元透過像を取得。試料を回転させた連続撮影データから、三次元CT画像を生成します。 金属材料はもとより、樹脂やカーボン素材等の有機系素材に威力を発揮します。 ●超音波顕微鏡 試料に超音波を照射し、その反射波を検出。超音波は空気層で強い...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    質情報と物理モデルを基にCT画像再構成の最適化を行った事例をご紹介します。 本技術によりアーチファクトを低減することができ、より鮮明な内部構造評価が可能です。 測定法:X線CT、計算科学・データ解析 製品分野:電子部品、製造装置・部品、LSI・メモリ、日用品 分析目的:形状評価、構造評価 【特長】 ■メタルアーチファクトによって遮られた構造を鮮明に観察可能 ■樹脂と金属の両...

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  • 【資料】リチウムイオン二次電池電解液成分の分布シミュレーション 製品画像

    【資料】リチウムイオン二次電池電解液成分の分布シミュレーション

    電解液界面近傍の模式図や電解液中の溶媒和構造などを図を用いて詳しく掲載…

    ーションによって評価した事例をご紹介。 当手法は二次電池だけでなく、燃料電池、各種触媒反応や金属表面の 腐食・防食など広範な分野での応用が期待されます。 【掲載内容】 ■概要 ■データ ・負極(グラファイト)-電解液界面近傍の模式図 ・電解液中の溶媒和構造 ・負極-電解液界面近傍の電気二重層 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有限要素法による強誘電体キャパシタ金属の応力評価 製品画像

    【分析事例】有限要素法による強誘電体キャパシタ金属の応力評価

    昇温・降温時の異種材料間にかかる応力分布を定量化できます

    案されています。本事例は有限要素法を用いて、TiN、W、Pt、HZOなどの線膨張係数が異なる材料から構成される積層構造において、降温時に各層に生じる応力を評価しました。 測定法:計算科学・AI・データ解析 製品分野:LSI・メモリ・電子部品・製造装置・部品 分析目的:形状評価・構造評価・応力・歪み評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】毛髪の三次元構造解析 製品画像

    【分析事例】毛髪の三次元構造解析

    X線CTと画像解析技術により、毛髪の定量評価が可能です

    空隙体積、キューティクル間隔をヒストグラム化しました。このように、X線CTと画像解析を組み合わせることで、毛髪の三次元構造を定量的に評価することが可能です。 測定法: X線CT、計算科学・AI・データ解析 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・化粧品 分析目的:形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】量子化学計算によるLIB成分の酸化還元耐性比較 製品画像

    【分析事例】量子化学計算によるLIB成分の酸化還元耐性比較

    電解液中の溶媒・添加剤の分解されやすさ、分解生成物などを予想できます

    ションより電解液成分の酸化還元耐性を評価することで、充放電サイクルにおける各成分の分解されやすさの指標を得ることができ、SEIの成分や特性の設計に繋げることが可能です。 測定法:計算科学・AI・データ解析 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価・その他 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価 製品画像

    【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

    X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

    ・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、X線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検出され、そこからリークが起きていることが示唆されました。 測定法:X線CT 製品分野:製造装置・部品、高分子...

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  • 【分析事例】量子化学計算によるLIB電解液の還元耐性評価 製品画像

    【分析事例】量子化学計算によるLIB電解液の還元耐性評価

    電解液中の溶媒・添加物の還元耐性の比較、分解物の構造推定が可能

    できます。本資料では量子化学計算によりLIB電解液の溶媒、添加物の電子親和力を求め、還元耐性を評価しました。また結合解離エネルギーから、還元生成物の構造推定が可能です。 測定法:計算科学・AI・データ解析 製品分野:二次電池 分析目的:組成評価・化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】量子化学計算による有機分子のスピン結合定数の解析 製品画像

    【分析事例】量子化学計算による有機分子のスピン結合定数の解析

    NMR測定と計算の組み合わせにより分子構造の詳細な解析が可能です

    ン結合定数の測定値と量子化学計算による計算値との比較に基づき、フッ素化合物の立体配座について解析した事例を紹介します。配座のエネルギー計算により安定性の比較も可能です。 測定法:計算科学・AI・データ解析、NMR 製品分野:医薬品 分析目的:化学結合状態評価、構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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  • 【分析事例】量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価 製品画像

    【分析事例】量子化学計算によるアゾベンゼン類の電気化学特性評価

    電池などに用いられる有機化合物の酸化還元特性・電子状態を予測・評価

    、量子化学計算によりアゾベンゼンとそのカルボン酸誘導体塩の還元電位、分子軌道計算を行った事例を紹介します。このようにシミュレーションで物質の電気化学特性を推定できます。 測定法:計算科学・AI・データ解析 製品分野:二次電池 分析目的:化学結合状態評価 「詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例 製品画像

    【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例

    金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…

    、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。 本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。 mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成を算出することで金属材料の推定を行いました。 測定法...

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  • 【分析事例】食品中アクリルアミドの定量分析 製品画像

    【分析事例】食品中アクリルアミドの定量分析

    技能試験FAPASに参加し、分析値の精度を保証しています

    詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】垂直入射法による深さ方向分解能の向上 製品画像

    【分析事例】垂直入射法による深さ方向分解能の向上

    SIMS:二次イオン質量分析法

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