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22件 - メーカー・取り扱い企業
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【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置。
CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験)や、 後工程テスト(パッケージの電気的機能試験)、R&D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...
メーカー・取り扱い企業: 応用電機株式会社 神奈川事業部(大和工場)
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特定デバイス・センサーをLabVIEWから制御できる唯一の製品。 各…
サーモグラフィやガルバノスキャンミラー等をLabVIEWから制御出来るVIライブラリです。 各種設定、撮像、解析機能等のVIライブラリはもちろんの事、サンプルアプリ、VIリファレンスマニュアルも標準同梱。 お客様ご自身で検査・解析システムを構築する際、大幅なコスト・時間の削減を実現します。 本スターターキットをインストールいただくだけで、その日からデータ取得が可能です。 インストールを...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イー・アイ・ソル
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在庫販売で短納期!全品1個から販売
エドモンド・オプティクスは、ミツトヨやオリンパスを始め、 メーカーの実体顕微鏡や倒立顕微鏡をご用意しています。 ミツトヨFS70検査用顕微鏡は、同社の無限補正対物レンズと 互換性があります。 オリンパス製実体顕微鏡は、様々なアプリケーションやシステムスペースに 対して広範なマウント構成を提供します。 エドモンド・オプティクスは、カメラや画質に影響を及ぼす振動の伝達を 最小...
メーカー・取り扱い企業: エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社
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CoaXPress規格のボードを使用することで、1PCあたり最大40台…
本システムは、8チャンネル対応のCoaXPress規格のボードを使用し VGA~5Mカメラ(1lane)なら最大8台、12~250Mカメラ(2lanes/4lanes)なら最大2台(or4台) または低画素と高画素カメラの組み合わせ…など多彩な接続が行えます。 ボードとPCの数量によっては更に多くのカメラが接続できるため、 多数のカメラを使った検査や、VR・ARデータ制作などにも活用可...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム
『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエ...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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高画素/高解像度で高速撮影を目的としたマシンビジョン用冷却カメラシステ…
BH-70シリーズは、カメラリンク通信規格に準拠した⾼速撮影が可能な冷却カメラシステムです。冷却によるノイズの低減効果と、温度管理により温度の変化によるノイズ変動を無くしデータの再現性が向上するので計測や検査に最適です。 グローバルシャッタで動体も歪みなく撮影でき出力にリニアリティのある35mmフルサイズCMOSのBH-73MやAPS-CサイズのBH-72Mを取り揃えております。 また...
メーカー・取り扱い企業: ビットラン株式会社
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光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは…
微細欠陥の検出でお困りではないですか? 【現在ご使用中の最終外観検査機についてお聞きします】 *検出に満足ですか?【YES・NO】 *虚報は少ないですか?【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇り、量産工程でも多数採用されています。 AIシステムのXAIS(ザイス)を追加す...
メーカー・取り扱い企業: 太洋テクノレックス株式会社 本社 和歌山
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半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく!ラベル用光学検査…
日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本CBL株式会社
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InfraTec社製 ハイエンドサーモグラフィ ImageIR
超高感度冷却式検出器(InSb/MCT)採用・3M(1920x1536…
ドイツのInfraTec社が提供する超高感度冷却式量子型検出器を採用した高速サーモグラフィImageIRシリーズは、研究開発用途や、高速回転体の解析、電子部品発熱解析、非破壊検査、その他多彩なアプリケーションで活躍します。 QVGAから3M(1920 x 1536)のHD画素タイプまで豊富なラインナップから各種測定用途にあったモデルを選択可能で、高速同期撮影による高速微小温度差の解析に最適です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
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研究開発や検査工程に大活躍のシステム型シュリーレン!
『SSシリーズ』は、観測空間に2回平行光が通過するWパス方式により、 屈折率が乏しい微細な密度勾配の差も高いレベルで可視化する システム型シュリーレンです。 光軸調整が簡素化されており手軽にシュリーレン撮影が可能です。 また、従来の半分以下の省スペース化を実現し、場所に苦慮しません。 【特長】 ■屈折率が乏しい微細な密度勾配の差も高いレベルで可視化可能 ■光軸調整が簡素化...
メーカー・取り扱い企業: カトウ光研株式会社 本社
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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豊富なラインアップをご用意!拡大観察・検査・研究のことなら当社へお任せ…
マイクロアドバンスは『高精細デジタルマイクロスコープ』を 豊富に取り扱っております。 高精細画像がPCで簡単撮影できる「ASシリーズ」をはじめ、低価格なのに 高性能・高品質で“快”観察を実現する「AS-M1100シリーズ」や 「AS-5210シリーズ」などをご用意。 そのほか、既存の顕微鏡をハイグレードにバージョンアップできる 顕微鏡マイクロスコープシステムなどもラインアップし...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロアドバンス
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自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…
『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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サブミクロンフィードバックステージコントローラ FC-111
100nm分解能で位置決め!リニアエンコーダによる位置フィードバックで…
サブミクロンフィードバックステージと組み合わせて100nm分解能位置決め装置として使用できます。 ステージに内蔵されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック(フルクローズドループ)制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 そのため、再現性が必要な精密検査や研究等で使用されています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用...
メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社
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10nm分解能で位置決め制御!検査や研究の再現性向上に!
10nmフィードバックステージと組み合わせて10nm分解能位置決め装置として使用できます。 ステージに内蔵されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック(フルクローズドループ)制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。 ...型式:FC-511 接続対象ステージ:FS-10...
メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社
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光による物体内部の安全な可視化がついに実現!
GENIALVIEWERは人体も含めた物体内部の可視化を目的として開発された次世代機器です。これまで物体内部の可視化には、X線、さらには造影剤の服用などが主流でしたが、 GENIALVIEWERを使用すれば、健康被害を受けることなく安全に検査をすることができます。放射線取扱責任者や設備も不要なため、導入や操作でのローコスト化が可能です。(特許出願済) 食品から生体まで活用法は無限大。あらゆる業界...
メーカー・取り扱い企業: ジーニアルライト株式会社
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鑑識分析装置『ffTA/GRIM3 ガラス微細片屈折率測定装置』
確かな技術!システムアップが可能なガラス微細片屈折率測定装置
『ffTA/GRIM3』は、ガラス屈折率測定以外にも、顕微分光分析装置、顕微 ラマン分析装置にシステムアップをすることが可能な、ガラス微細片屈折率 測定装置です。 警察での犯罪鑑識、入国管理局での検査、金券、証券などのセキュリティー 印刷、保険調査、図書館、資料検査などの分野においての検査で威力を発揮。 確かな技術と長年の豊富な経験によるサポート、サービスで、安心してお使い い...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社セントラル科学貿易
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メガピクセルFAレンズ、FA&画像処理/セキュリティー
<魚眼レンズ H1328-KP> ●通常の広角レンズでは捉えることの出来なかった、画角180°の超広角を、メガピクセル対応の高解像度で撮影することが出来ます。 また、魚眼レンズ特有の周辺部の「変形」や「圧縮」を抑えた設計を採用し、きわめて視認性の高い画像を得ることが出来ます。 <用途1> 広範囲の監視、TV会議システム <用途2> 管内検査、容器の内面検査 →大きな深度が...
メーカー・取り扱い企業: CBCオプテックス株式会社
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サブミクロンフィードバックステージコントローラ FC-411
50nm分解能で位置決め!フィードバック制御で再現性に優れ、検査効率向…
サブミクロンフィードバックステージと組み合わせて50nm分解能位置決め装置として使用できます。 ステージに内蔵されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック(フルクローズドループ)制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。...型式:FC-411 接続対象ステージ:FS-10...
メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社
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検査や研究を効率化!5nm分解能で位置決め制御ができます。
5nmフィードバックステージと組み合わせて5nm分解能位置決め装置として使用できます。 ステージに内蔵されているリニアエンコーダからの位置情報をもとにフィードバック(フルクローズドループ)制御を行っているため、高分解能かつ再現性に優れています。 外部機器からコマンドによる通信制御が可能で、測定システムの一部として使用できます。 ...型式:FC-611 接続対象ステージ:FS-10□0...
メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社
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光学燃焼解析システムやマイクロスコープなどを掲載!画像関係製品を豊富に…
当カタログは、マイセックが取り扱う、画像関係の製品を ダイジェストカタログから内容を一部抜粋してご紹介しています。 高性能CMOSカメラによる高画質な検査画像により、熟練度に依存しない 判断が可能なポータブルビデオスコープ「VTecXシリーズ」をはじめ、 レーザー顕微鏡専用レンズを搭載した3D測定レーザー顕微鏡「OLS5100」 などを多数ラインアップ。 この他にも、「組合せ曲...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイセック
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