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PR5年ぶりに対面式の復活!職場で今すぐ使えるポイント教えます
日東精工アナリテック株式会社は、対面形式での水分測定技術セミナーを 5年ぶりに開催いたします。 カールフィッシャー(KF)水分測定法へのご理解をさらに深めて いただくために、KF法の原理、KF試薬の選び方、日常のメンテナンスに ついての解説やアプリケーション例と合わせて詳しくご紹介いたしますので 皆様の奮ってのご参加を心よりお待ちしております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問...
メーカー・取り扱い企業: 日東精工アナリテック株式会社
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エスキューは、肌診断機の研究者と販売部門の【橋渡し役】です!
PR肌のポテンシャルをタイプ別に診断する「ポテンシャルファインダー」など、…
当社では、肌化粧品を製造するメーカー様に向けた『肌診断機を用いた化粧品の販売支援サービス』を提供しております。 美容理論に基づき、敏感肌向けの製品から特定のニーズに対応した化粧品まで、肌診断機を用いた多様な拡販支援策にお役立て頂いてきました。肌診断機を用いた新しいアイデアやコンセプトの提供からテスト、市場投入までの一連のプロセスをサポートいたします。 【導入事例(抜粋)】 ・販売現場で、まだ不慣...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エスキュー
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様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非…
半導体デバイスの製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測…
当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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IR反射率測定ヘッドを使用可能!高スループットのエピ膜厚測定を実現した…
『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイ…
『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔…
■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…
オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…
太陽電池のブロック/ウェハー/セルのマッピング測定可能な装置もご提供可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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薄膜太陽電池パネル測定装置
太陽電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。 - 分光エリプソ(膜厚、光学特性) - ライフタイム測定 - シート抵抗測定 - 比抵抗測定 - ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置
ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N,K値)波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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結晶欠陥測定装置 (光散乱断層撮影式)
シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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インライン型ウェハー測定モジュール
結晶系太陽電池向け品質管理、製造歩留向上のためのインライン全自動ウェハー測定モジュールです。 搬送用ベルト上でノンストップにてライフタイム、比抵抗/厚さ、シート抵抗を測定します。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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薄膜膜厚・ヤング率測定装置
非接触、非破壊でウェハー基板上の薄膜膜厚、膜のヤング率、 ポアソン比を測定することができる。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター…
『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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圧痕を直接観察することも可能!硬度、弾性率、耐摩耗性、耐傷性などの測定…
『IND-1000』は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などの 様々な物質の硬度や弾性率を測定するナノインデンターです。 AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察する ことも可能。 また、高精度...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
ウェハーを割らずにそのままで測定可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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ロールツーロール分光エリプソメータ
ロールツーロールにてノンストップで膜厚を多点測定可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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