• NMRベースのAvance化学プロファイリングモジュール 製品画像

    NMRベースのAvance化学プロファイリングモジュール

    PR入荷品のテスト、プロセス中間体のモニタリング、最終製品配合のスクリーニ…

    新しいNMR ベースの『Avance Chemical Profiling』モジュールは、 分光学の専門家とのやり取りを必要とせず、サンプルから実用的な 情報インテリジェンスまで、包括的なソフトウェアベースの自動化された エンド・ツー・エンドのワークフローです。 データ取得、処理、解釈、レポート作成などのタスクに対応。 純粋な形状または混合物中の物質の同定と定量を自動的に可能にし...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 バイオスピン事業部

  • 【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析 製品画像

    【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析

    微小領域の無機・有機物の分布評価が可能です

    はんだの剥離原因究明には、はんだと基板界面の成分分析を行うことが有効です。 TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、剥離部の評価に適した手法です。 本資料では、はんだの剥離部断面を分析した事例を示します。基...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価

    目的に応じた毛髪成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にでき、またイメージ分析が可能であることから、試料中の着目成分の分布・浸透具合の解析に有効な手段です。 毛髪に対して測定法と加工を組合わせることで、毛髪の表面や断面、深さ方向への分布と様々な視点からの評価が可能で、目的に応じた毛髪中の成分比較や浸透性評価を行うことができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析 製品画像

    生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析

    TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージン…

    TOF-SIMSおよびMALDI-MSはいずれもイメージング質量分析(IMS:Imaging Mass Spectrometry)が可能な手法で、得意とする成分や質量、空間分解能が異なります。TOF-SIMSでは低質量成分を得意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージン...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】撥水箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】撥水箇所の成分分析

    TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

    密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査 製品画像

    【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

    TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

    剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    テンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm~数十nmの酸化物の分布を得ること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】セラミックスの変色原因評価 製品画像

    【分析事例】セラミックスの変色原因評価

    TOF-SIMSでは無機材料の変色原因のイメージングが可能

    ックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。不純物や付着物により生じるセラミックスの変色評価には、着目箇所について有機物・無機物を問わず微量成分のイメージング分析が可能なTOF-SIMS分析が有効です。 本資料ではAl酸化物のセラミックス変色部分をTOF-SIMSで分析し、イオンイメージとラインプロファイルで変色原因を示した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価 製品画像

    【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価

    1画素ごと、各層ごとに成分を同定することが可能です

    今後需要が拡大する有機ELの信頼性向上のため、詳細な構造解析や状態分析、劣化原因の特定がさらに重要となります。TOF-SIMSとLC/MSを用い、層構造や材料を評価した事例をご紹介します。 TOF-SIMSにより、層構造と各層の成分情報を評価できました。TOF-SIMSで明らかになった質量Eの成分についてLC...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】表面分析による品質管理 製品画像

    【分析事例】表面分析による品質管理

    表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…

    TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。例えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン(PDMS)について、保管環...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価 製品画像

    【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価

    TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です

    伝達します。そのため、それらの材料の選択、不純物の有無、密着性、被覆状態、付着物などを分析することが重要となります。光ファイバーは、大きく分けてプラスチック製、石英製の2つがあります。本資料では、TOF-SIMSでプラスチック製光ファイバーの断面を分析することにより、コアおよびクラッドの材料を同定した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:光ファイバー・電子部品 分析目的:...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価 製品画像

    【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価

    TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

    れており、このような銅表面は大別して「Cu」「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」の状態にわけられることが知られています。 市販の標準品である「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」粉末をTOF-SIMSにより深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを用いて、金属Cu表面自然酸化膜の深さ方向の状態評価が可能とな...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】血液成分の洗浄残渣評価 製品画像

    【分析事例】血液成分の洗浄残渣評価

    TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化

    今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン(BSA)をアセチルセルロース(TAC)のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質によって拭き取り効果が異なることがわかりました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:医療機...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】雰囲気制御下での有機金属錯体の定性分析 製品画像

    【分析事例】雰囲気制御下での有機金属錯体の定性分析

    酸化の影響を受けない条件でTOF-SIMSによる質量分析が可能です

    エポキシ化に欠かせない試薬であり、大気下では酸化の影響を受けます。 今回、チタンテトラアルコキシド(チタンテトライソプロポキシド)について、雰囲気制御下と大気暴露後において、どのように変化するかTOF-SIMSを用いて調べた事例を示します。 MSTでは雰囲気制御により、大気酸化の影響を受けずに錯体の評価が可能です。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・化粧品・日...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪のキューティクル表面の成分分布を可視化 製品画像

    【分析事例】毛髪のキューティクル表面の成分分布を可視化

    有機分子の分布をTOF-SIMSイメージ分析で比較

    TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、試料中の着目成分の分布・浸透具合の解析に有効な手段です。 本資料では、シロキサン系のヘアケア剤を用いた毛髪の「断面および表面」と、毛髪の「表面」をイメージ分析した結果を示します。毛先表面と根本表面のキューティクルには、成分分布状態に違いがあることが確認できました。 測定法:TOF-SIM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価

    一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    リチウムイオン二次電池で使用される黒鉛負極粒子を塗布したシートを、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一粒の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)は、二次イオンのマススペ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価 製品画像

    【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

    アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】骨断面の組成分布評価 製品画像

    【分析事例】骨断面の組成分布評価

    マウスの脛骨断面の組成分布をTOF-SIMSにより可視化

    マウス脛骨の成分分布を評価するため、脛骨の切片を作成しTOF-SIMSによるイメージング分析を行いました。マウス由来成分であるK・Ca・リン酸Ca・リン脂質の分布が確認できました。 TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定するため、蛍光物質などの...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析 製品画像

    【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

    TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能

    一般的に汚れを落とすために、綿棒にエタノールをつけ拭き取ることがあります。エタノールをつけた綿棒でSiウエハ表面を拭いた際、表面に何が分布するのかTOF-SIMSを用いて分析を行いました。 エタノールをつけた綿棒で拭いたSiウエハには、光学顕微鏡でみられないシミが分布しており、綿棒に起因することがわかりました。TOF-SIMSでは光学顕微鏡で見...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み 製品画像

    技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    はLDI-MS、SIMS、LA-ICP-MSなどMSイメージング分析が可能な様々な装置を有しており、それぞれ特長を活かした分析が可能である。 【目次】 1.はじめに 2.LDI-MS 3.TOF-SIMS 4.LA-ICP-MS 5.NanoSIMS 6.おわりに...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】 製品画像

    初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

    表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS…

    面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型2次イオン質量分析法(原理、スペクトル例) RBS:ラザフォード後方散乱分析法(原理、スペクトル例) XPS:X線光電子分光法(原理、スペクトル例) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 電子基板・部品の解析 製品画像

    電子基板・部品の解析

    高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!電子基板の解析事例をご紹介

    パターンの銅表面を様々な手法で分析することで問題を 解決しました。 【電子基板の解析事例(配線パターン)】 ■FT-IR(反射法・ATR法) ■XPS表面分析 ■AES深さ分析 ■TOF-SIMS分析 ■熱分解GC/MS ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動を酸素スパッタガンに比べ抑えられることがわかりました。この測定を行うことで、SiO2膜中の不純物について定性・定量分析を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】微小ビアのイメージ分析 製品画像

    【分析事例】微小ビアのイメージ分析

    微小領域の分布評価が可能です

    回路の微細化にともない微小化する層間接続ビアの設計開発では、充填の良好性を把握することが求められます。TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析

    ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能

    TOF-SIMSは深さ方向に質量スペクトルの取得が可能であるため、各層の定性を行うことで非常に薄い層の成分の解析が可能です。 本事例では、ハードディスクを深さ方向に分析を行いました。その結果、表面に形成されるダイヤモンドライクカーボン(DLC)層は2層構造となっており、表面側では窒素が含まれるC層、奥側でCのみの層となっていることが分かりました。この方法を応用して、グラフェン膜の深さ方向分析も可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】生体材料中成分の分布状態の可視化 製品画像

    【分析事例】生体材料中成分の分布状態の可視化

    生体材料の切片作製から分析までまとめて承ります

    本資料では、マウスの脳・心臓・肝臓・腎臓・歯の組織についてそれぞれ断面切片を作製し、TOF-SIMSでイメージングしました。イメージング領域は約10μm~数cmオーダーまで可能で、着目に合わせて分解能良く分析することができます。生体の各器官に合わせて切片作製を行い、成分をイメージングす...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験

    加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+ED…

    劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価

    洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能

    のため、セラミックスの機能を判断するうえで、表面状態を適切に評価することは重要です。 本資料ではZr酸化物からなるセラミックス表面のぬれ性に寄与する洗浄成分について、表面分布および深さ方向分布をTOF-SIMSで評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:定性・分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価 製品画像

    【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

    有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

    半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果をご紹介します。TOF-SIMSでは、粘着シート各材料の定性を行うことで、異物・汚染がどの粘着シートに起因するのか、また粘着シートのど...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価 製品画像

    【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価

    無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます

    ・耐薬品性などの特徴を有しており、表面状態の評価をすることはセラミックスの機能を活かすために重要です。 本資料では、表面が撥水加工されているZr酸化物セラミックス材料において、撥水性低下の原因をTOF-SIMSを用いて評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】メルブロミンの皮膚への浸透性評価 製品画像

    【分析事例】メルブロミンの皮膚への浸透性評価

    テープストリッピング法により皮膚への主薬の浸透性を可視化

    TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定します。今回、ヒトの皮膚(腕)にメルブロミン液(赤チン)を塗布し、角層をテープにて剥離するテープストリッピング法にて、皮膚への主薬の浸透性を評価しまし た。メルブロミン液を腕に塗布し、二時間後にテープストリッピング法にて角層を三回剥離し、テープの粘着層表面をTOF-SIMSにより面分析しました。角質由来のCNOに対する、メルブロミン由来の臭素Br量により...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子の成分分析 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の成分分析

    Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

    XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子(図1)について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3,...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】アクリル樹脂の定性 製品画像

    【分析事例】アクリル樹脂の定性

    TOF-SIMS分析による成分の推定が可能です

    全性などが優れているため、有機ガラスとして航空機や自動車などの窓ガラス、レンズやプリズムなどの光学用器具・医療用材料・日用品・工芸品などの広い用途があります。代表的なアクリル系の標準試薬について、TOF-SIMSで質量スペクトルを取得しました。MSTでは分析対象の質量スペクトルと標準試薬の質量スペクトルとを比較することで、検出されたフラグメントイオンから、アクリル樹脂の推定が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価 製品画像

    【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

    ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

    向上の観点からウエハ裏面に残留する金属を除去することが求められており、金属成分の残留量を定量的に把握することが重要です。 ベベル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価 製品画像

    【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価

    撥水膜・塗膜・皮膜の分布状態や被覆状態の可視化

    面にシリコーンをコーティングすることで、穿刺抵抗を低下させ患者の身体的負担を低減させています。針の性能を保つためには、全体がコーティング膜に覆われていることが重要です。注射針先端の開口部分についてTOF-SIMSでイメージング分析を行い、コーティング膜が被膜されているか評価を行った事例を紹介します。TOF-SIMSは最表面の情報を検出するため、下地の元素を検出することなくコーティング膜の状態を評...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ラット皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価 製品画像

    【分析事例】ラット皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価

    TOF-SIMSにより生体組織中薬効成分の分布を可視化

    TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定するため、蛍光物質などの標識が不要であり、その影響のないイメージング評価が可能です。また、断面イメージングを行うことで、深さ方向への分布評価をすることができます。今回、ラットの皮膚にインドメタシンのゲル製剤を2時間塗布し、浸透した薬効成分の分布を可視化しました。その結果、インドメタシンは角層表面約5μmに高濃度に偏在しており、深さ方向ラインプロファイル解析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機成分洗浄効果の評価 製品画像

    【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

    300mmウェハをそのまま測定できます

    TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微小領域においても、このように極微量の成分まで測定可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析 製品画像

    【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析

    TOF-SIMSを用いてPETボトルの層ごとの成分を特定可能

    夫がなされており、例えば図1のように酸素吸収層をPET間に挟むことで飲料の劣化を防ぎ、おいしいさが保たれています。 本資料では、酸素吸収層がどのようなものから構成されているのかを確認するために、TOF-SIMSで分析した結果を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】繊維の変色原因調査 製品画像

    【分析事例】繊維の変色原因調査

    繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめます。TOF-SIMSによる定性結果から、変色部は皮脂である可能性が...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価 製品画像

    【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価

    試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

    価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ系樹脂中に混入した数10μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、分布状態の確認ができました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価 製品画像

    【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価

    TOF-SIMSによる洗浄残渣の測定事例

    クレンジングオイルの種類によって、同じ洗顔方法でも化粧の落ち方が異なります。 洗浄の効果を調査するため、口紅をオイルで洗浄した後に残った成分についてTOF-SIMSを用いて評価を行いました。口紅の成分(色素やオイルなど)について、試料間の相対比較を行うことでクレンジングオイルの種類による洗浄効果の違いを評価した事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】MSDMについて 製品画像

    【分析事例】MSDMについて

    TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法

    TOF-SIMSの深さ方向分析では平面上の位置情報(x,y)を無視すると、各深さ(z)で質量スペクトルが存在するため、深さ・質量・スペクトル強度の3次元データが得られます。この3次元データを1枚の画像として可視化したものが、MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)表示です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】顔料・色素の分散の観察 製品画像

    【分析事例】顔料・色素の分散の観察

    TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定

    ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。 TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術資料『表面分析の概要』 製品画像

    技術資料『表面分析の概要』

    代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

    や界面の構造・組成の把握に用いられている、様々な「表面分析方法」について掲載した資料です。 本資料では、表面分析の基礎の基礎として、代表的な表面分析であるEPMAやAES、XPS、SIMS、TOF-SIMSを簡潔に解説しています。 【掲載内容】 ■表面分析の種類と特徴  ・EPMA  ・AES  ・XPS ほか 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • 質量分析を利用した遺伝子解析法 製品画像

    質量分析を利用した遺伝子解析法

    マスアレイ法

    遺伝子解析とは、DNAの塩基配列を読み取り、遺伝子の変異や働きを調べる方法です。 本手法では、塩基の質量の違いをMALDI-TOF-MSで分析し、DNA塩基配列を決定します。これによりSNP(一塩基多型)やINDEL(挿入/欠失)、CNV(コピー数多型)等を検出することが可能です。 一度に解析できる検体数や検出可能な遺伝子...

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  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    はじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を深さ方向に測定することが可能です。※GCIB:Gas Cluster ...

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