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ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析
生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的:微...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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AFMによるステップ-テラス構造の可視化
ム(GaN)は、パワーデバイスや通信・光デバイスなどの幅広い分野で用いられています。デバイスを作製するうえで、ウエハ表面の形状と粗さはデバイス性能に大きく影響します。GaNウエハを成長させる際、支持基板との格子不整合などによる応力の影響で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス幅、ステップ高さ、表面粗さ、オフ角を...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測定法:蛍光寿命測定 製品分野:パワーデバイス、LSI・メモリ、電子部品 分析目的:故障解析・不良解析、製品調査、キャリアライフタイム、プロセス...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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電池材料/AM材料/医薬材料など様々な粉体の”摩擦特性””強度特性””…
●粉体摩擦試験装置 粉体の“摩擦特性”を高精度に測定することができ、 流動性/付着性/充填性などあらゆる特性を評価できます。 1mL~測定が可能で、粉体層/粉体-基板/温度条件などご要望に応じた測定が可能です。 ●粉体強度試験装置 粉体の“強度特性”を高精度に評価することができ 粒子の圧壊力や、弾性評価(ヤング率)を評価できます。 10nN~10Nの広範...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイテクノライズ
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