• 技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価 製品画像

    技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価

    エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…

    トリーについて 3. PVA膜スピンコート直後の経時変化 4. シリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価 5. おわりに 【図表】 図1 反射光の偏光状態の変化 図2 PVA膜/熱酸化膜/Si基板の測定解析結果 図3 PVA膜(赤)と熱酸化膜(青)の屈折率の波長分散 図4 スピンコート後大気下乾燥中のPVA膜の膜厚と屈折率の経時変化 図5 スピンコート後大気下乾燥中のPVA膜中に含まれ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術 製品画像

    技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    リウム(Ga2O3)は新たなパワーデバイス材料として注目されている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解析、および不純物、欠陥評価を行った事例について紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.試料 3.分析結果 4.まとめ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入 製品画像

    技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    感度測定 4.重元素の質量分解能向上 5.まとめ 【図表】 図1~図8 RGB各画素で取得したRBSスペクトル 各元素の質量分解能と感度(理論計算値) SiON膜(100 nm)/Si基板:RBSスペクトル、NRAスペクトル IGZO膜(300 nm)/Si基板:RBSスペクトル IGZO膜のGa/Zn比の比較...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み 製品画像

    技術情報誌 201911-02 バイオイメージングへの取り組み

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    2.LDI-MS 3.TOF-SIMS 4.LA-ICP-MS 5.NanoSIMS 6.おわりに 【図表】 図1~図14 ラット肝臓のMALDI-MSイメージング イオン化支援基板を用いたMSスペクトル、LDI-MSイメージング ラット小脳・毛髪のイオンエッチングのTOF-SIMSイメージング マウス脳および脊髄のLA-ICP-MSイメージング 毛髪断面・免疫染色したマ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

1〜4 件 / 全 4 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。