tem | イプロス医薬食品技術

高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM（透過電子顕微…

TEM（透過電子顕微鏡法）は、薄片化した試料に電子を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中！写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。【掲載内容（一部）】 <TEM...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202305-02 加熱in-situ TEM

加熱in-situ TEMを用い、半導体デバイスの熱処理中の材料の構造…

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。【要旨】半導体デバイスの開発・製造において、熱処理工程における材料の構造変化を把握することは非常に重要である。加熱in-situ TEMを用いることにより、熱処理中の材料の熱挙動をnmレベルで可視化し、構造変化に関する新たな知見を得て、膜質制御などプロセス開発に役立てることが可...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

GasPro TEM 高性能ガスフィルター選定ガイド

【選定ガイド進呈中】4ステップで簡単選定！様々なガスフィルターからご状…

サヤマトレーディングではPorvair社の多様なガスフィルターを取り扱っています。 TEM 高性能ガスフィルターの選定ガイドの手順１～４を参照し、TEMからはじまるシリーズ名と、継手をご指定ください。＜選定手順＞・ステップ１　ガスの温度・ステップ２　ガスの種類・ステップ３　ガスの流量・ステップ４　継手のサイズと形状 →ご状況に適したガスフィルターの選定が簡単4ステップで...

メーカー・取り扱い企業：エア・ウォーター・メカトロニクス株式会社　ST事業部

Open TEM Cell 超小型セプタム高28 mm～

セプタム高28 mm（TBTC0）。イミュ二ティ試験を低価格で実現出来…

【モデル：TBTC0】長さ: 390 mm 幅: 100 mm 高さ: 62 mm セプタム高さ: 28 mm セプタム下の長方形の領域: 19 cm x 7 cm x 2.8 cm TEM cell コネクタ： N-メス公称セルインピーダンス： 50 Ohm 電波インピーダンス： 377 Ohm 最大RF入力電力： 10W (limited by supplied ...

メーカー・取り扱い企業：ウェーブクレスト株式会社

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。結晶粒径解析が可能測定領域の配向測定が可能双晶粒界（対応粒界）の観察が可能特定結晶方...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

GasPro 高温用ガスフィルター　TEM-700シリーズ

最高使用温度　400℃対応の高性能メンブレンガスフィルター

GasProTEM-700シリーズは、反応性のガスやハロゲン化マイクロエレクトロニクスガス用に特別に設計されています。全溶接構造になっており、フィルター材質は0.01ミクロン。大流量で低いデルタPが必要なケース、またスペースが限られているところに最適です。本体はグラスファイバーとSUS316Lの電解研磨された溶接ハウジングで構成されており、類似サイズのメンブレンフィルターよりも10～20倍高い...

メーカー・取り扱い企業：エア・ウォーター・メカトロニクス株式会社　ST事業部

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS： Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

GasProオールフッ素樹脂ガスフィルター　TEM-1900

半導体ガスフィルター用、ろ過精度0.003ミクロンの高性能インラインガ…

GasProフィルターは、半導体ガスフィルター用として特別に設計されています。全溶接構造になっており、大流量が必要でスペースが限られているところでも0.003ミクロンのろ過精度を実現しています。メディア材質はPTFE、溶接ハウジングには電解研磨されたSUS316Lが使用されております。清浄度を確保するためにろ過した窒素でパージされ出荷されます。様々な接続タイプをご用意しており、容易に取...

メーカー・取り扱い企業：エア・ウォーター・メカトロニクス株式会社　ST事業部

卓上タイプ低電圧透過型電子顕微鏡（TEM）LVEM 5　

LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕…

【LVEM5の主な特徴】 ◆1台でTEM（電子回析含む）、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。（各イメージモード搭載時） ◆抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ◆低電圧（5KV）の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に...

メーカー・取り扱い企業：入江株式会社

GasPro PTFE　ガスフィルター　TEM-800シリーズ

あらゆるグレードの半導体プロセスガスとCDAに。ろ過精度0.003ミク…

GasProフィルターは、あらゆるグレードの半導体プロセスガスとCDA（クリーンドライエア）のフィルター用に特別に設計されています。全溶接構造になっており、大流量が必要でスペースが限られているところでも0.003ミクロンのろ過精度を実現しています。 PTFEメンブレンとポリプロピレンで支持されたカートリッジ、そしてSUS316Lの電解研磨された溶接ハウジングで構成されています。清浄度を確保するた...

メーカー・取り扱い企業：エア・ウォーター・メカトロニクス株式会社　ST事業部

K-Kit ウェットセル TEM用液体サンプルホルダー

TEM付属標準グリッドホルダーで観察可能！材料系・化学系・バイオ系の研…

『K-kit』は、液体サンプルのTEM観察が手軽におこなえるツールです。液中でのナノ物質・強凝集体・弱凝集体(NOAAs)サンプルの特性評価が可能。液体サンプルをマイクロチャンバーに封入して使用します。材料系・化学系・バイオ系の研究用途として使用されています。【特長】 ■TEM付属の標準グリッドホルダーで観察可能 ■液体サンプルをマイクロチャンバーに封入して...

メーカー・取り扱い企業：エルミネット株式会社

TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。【微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター

グラフェンTEMグリッド

親水化処理を施すことにより非常に薄く均一な厚さの氷の層を形成できます！

当製品は、清浄度の高いCVD合成の2層グラフェン自立膜による画期的な TEMグリッドです。超微粒子、ウィルスなどの透過電子顕微鏡観察用試料支持膜として好適。親水化処理を施すことにより非常に薄く均一な厚さの氷の層を形成できます。また、親水化処理済みのグラフェンTEMグリッドの提供も可能です。【特長】 ■清浄度の高いCVD合成の2層グラフェン自立膜による画期的なTEMグ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エアメンブレン

各種請負加工サービス（AFM／TEM／ECM／PECM）

部品加工を行うためのもう1つの方法！熟練の技術者が、お客様の製品を大切…

当社では『各種請負加工サービス』を承っております。お客様のサポートを行い、アウトソーシングのニーズにマッチするよう、世界中に広がる請負加工工場のネットワークを提供。お客様の仕上げ加工の要求条件に適合するように、それらの工場には地域産業のニーズに沿った様々なテクノロジーが装備されています。長年にわたる経験と、ローカルエンジニアリングと実現を可能にする能力、 ISOおよ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エクスツルードホーン埼玉県

【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価

PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察

PL（フォトルミネッセンス）マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。更に同一箇所を高分解能STEM観察（HAADF-STEM像）を行うことで積層欠陥を捉えることができます。本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピングとSTEMを用いて調査を行いました。 PLマッピングにより積層欠陥位置を特定後、欠陥端部分についてμサンプリングを行い、断面STEM観察...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

TEO・TED・TEMシリーズ製品カタログ

マグネットポンプ 3シリーズの特長・構造を詳しく掲載！

当カタログは、あらゆる業種に合った工場設備の提案をしている有限会社エステックの、マグネットポンプを掲載した製品カタログです。「TEOシリーズ」は、シンプルな構造で長寿命。樹脂ブラケット、樹脂ベースを採用し、軽量、耐腐食性を持った小容量汎用マグネットポンプです。さらに、中容量従来型汎用マグネットポンプ「TED」、中容量汎用マグネットポンプ「TEM」、これら3つのシリーズを...

メーカー・取り扱い企業：有限会社エステック

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置（EDX)と比較して、下記の特徴があります。・EDXに比べて軽元素の感度が良い・EDXに比べてエネルギー分解能が高い・EDXに比べて空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い・元素によっては化学状...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察…

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。ぜひ、ご一読ください。【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレス...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2～5 nm）。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能で...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

放射温度計／品番 MI1RA-TEM

測定温度はバックライト付きの見やすいLCD

■特長非接触温度は、測定対象物に合わせて放射率を0.01～1.00の間で変更できます。遠くの測定対象物も正確に測定できるように距離係数は11:1となっています。MI1RA-TEMは、測定中の最高温度、最低温度、最高温度と最低温度の偏差値、平均値を表示することができます。また、指定した最高温度と最低温度になるとアラームを鳴らすことができる機能付きです。赤外線放射温度計モードでは、操作を中止す...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シロ産業

技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核固体NMR...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

親水化UV照射ユニット

2層グラフェンTEMグリッドでの親水化処理により、非常に薄く均一な厚さ…

『親水化UV照射ユニット』は、原子層のグラフェンをUVオゾン処理により制御性よく親水化する装置です。当製品による親水化により、薄く均一な氷をグラフェン上に積層することが可能。低温TEM観察のための「2層グラフェンTEMグリッド」の親水化処理に好適です。また2層グラフェンの下層にはほとんどダメージがないため、グラフェン本来の電気伝導性と熱伝導性は維持され、安定した低温...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エアメンブレン

サーマルデバーリング（TEM）

デバーリングに加え、クリーニング効果も！品質保証効果が期待出来ます！

『サーマルエネルギーデバーリング法』は、ガスを燃料として、極めて簡単且つ敏速に部品表面及び内部の奥深い箇所のバリ、カエリ、切粉又は異物等を瞬時に燃焼除去する、ユニークな構想のシステムです。加工物をチャンバー内に入れ密閉し、ここに酸素とメタン又は酸素と水素の混合ガスを加圧送入すると、ガスはチャンバー内の部品の内外隅々まで充満。酸化粉末は部品の表面に付着し、一見外観が酸化さ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エクスツルードホーン埼玉県

透過電子顕微鏡関連製品

グリッド(メッシュ)をはじめTEM観察用試料支持膜などを掲載！

当カタログは、電子顕微鏡観察用試料支持膜ならびに試料作製技術関連製品を中心とした製品を取り扱う株式会社ステムのカタログです。 “MKS単位”を基準とした「ステムミクロンピッチグリッド」をはじめ TEM観察用試料支持膜や、SEM用試料台・ホルダー・ケースなどを掲載しております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。【掲載内容】 ■グリッド(メッシュ) ■TEM観察用試...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ステム

透過型電子顕微鏡

透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能…

弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。...TEM観察・ナノオーダーの構造把握や格子像の観察を行います。・TEM画像を使用した解析・評価、EDXによる局所的元素分析を行っております。 TEM画像を用いた解析、評価・高分解能TEM像による結晶欠陥の解析や歪みマッピング評価を行います。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター

技術情報誌 201910-03 in-situ 昇温手法

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 LIB正極活物質LiCoO2について、TPD-MSによるガス分析とin-situ 昇温TEM法の2つのin-situ 昇温手法を用いて、昇温時におけるLiCoO2粒子の発生ガスと形態・組織・構造変化の関係性を調査した。その結果、ガス発生は構造変化と密接な関係にあることが示された。充放電挙動と酷似した変化も認められ、温度をパラメータにした一連の測定結果は、実材料を解析する上でも重要な知見...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

透過電子顕微鏡シミュレーションソフト　BioNet BesTEM

TEM/STEM像を忠実にシミュレート！タンパク質試料やウイルスにも対…

『 BioNet BesTEM（バイオネットベステム）』は、日本電子株式会社（JEOL）や、米FEI社をはじめとする国内・海外製の6極子型収差補正電子顕微鏡もシミュレート可能な、透過電子顕微鏡画像シミュレーションソフトです。収差補正電子顕微鏡が持つ光学系の影響を考慮したビーム強度、 Ronchigram（ロンチグラム）が計算可能。マテリアル系のシミュレーションだけで...

メーカー・取り扱い企業：株式会社バイオネット研究所

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

試料作製、観察、分析の先端技術

日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。〇特長・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能・正確かつ迅速にピックアップ作業可能・TE...

メーカー・取り扱い企業：アズサイエンス株式会社松本本社

日本マーテック名古屋ラボの分析装置

材料・構造の受託分析サ－ビスで使用している機械をご紹介しています！

日本マーテックの名古屋ラボが保有している分析装置をご紹介します。材料分析/構造分析をサービス内容としており、FIB 4台＋TEM 4台で対応。 FIB-G4をはじめ、FIB–NOVAやTEM–Talos、Gloveboxなどの装置で受託分析サービスを行っています。詳細については、お気軽にご相談ください。【保有機械】 ■FIB-G4×2(1台 EDX付属) ■FIB...

メーカー・取り扱い企業：日本マーテック株式会社

初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。以下について、易しく、コンパクトに解説しています。形態観察手法について・　走査型電子顕微鏡（SEM）：原理、試料作製法、分析例・　透過型電子顕微鏡（TEM）：原理、試料作製法、分析例・　球面収差補正走査透過型電子顕微鏡：原理、分析例 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

真空チェンバー用プラズマクリーニング装置『GV10x型』

真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で簡単に！…

『GV10x型』は、精密機械器具、電気・電子機械器具の製造、組み立て、賃貸、補修、輸出入及び販売などを行っている、エルミネットが取り扱う製品です。SEM・TEM・XPS・SIMS等のチェンバー内の蓄積された有機系コンタミネーション除去で、真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で容易に行えます。【特長】 ■蓄積された有機系コンタミネーション除去 ■TEMグリッドや支...

メーカー・取り扱い企業：エルミネット株式会社

オープンGTEMセル　TBGTC1

オープンGTEMセル『TBGTC1』は、EMCコンプライアンス・テスト…

オープンGTEMセル『TBGTC1 』は、EMCコンプライアンス・テスト用の低コストのオープン TEMセルです。より高い周波数では制限がある TEMセルとは異なり、GTEMセルは最大数 GHz で動作する可能性があります。トラッキングジェネレータ、変調パワーアンプ、およびEMCviewソフトウェアを備えたスペクトラムアナライザを使用して、EMC関連の設計変更の前後で製品の放射性エミッション...

メーカー・取り扱い企業：ウェーブクレスト株式会社

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】酸化ガリウム（Ga2O3）は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。【目次】１．...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固定することで超薄切片を作製することが可能です。...1．切り出し 2．樹脂包埋 3．粗トリミング ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

グラフェン『単結晶グラフェン』

単結晶ドメインは1mm以上も可能！グラフェンマスター社のグラフェン

『単結晶グラフェン』は、任意の基板に転写でき、単層から複層まで基板への全面転写技術を有するオランダのグラフェンマスター社のグラフェンです。前処理済みグラフェンを使用目的に応じて加工したり、標準品として h-BN・TEMグリッド・クオーツ等の基板上の単結晶グラフェンの製造も行っております。任意の基板に転写可能で、単層から複層まで基板への全面転写も可能です。【特長...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ニューメタルス　エンド　ケミカルス　コーポレーション

【冷凍機内蔵型】スーパーショーケース「EVシリーズ」

催事用のショーケースにも対応！冷凍機内蔵型のショーケース

パナソニック産機システムズの代理店として当社が取扱うスーパーショーケース「EVシリーズ」の冷凍機内蔵型製品のご紹介です。ハンドレールの形状をフロントパネルと一体型とした多段型をはじめ、高齢者でも奥の商品に手が届きやすい催事用や2温度切替タイプでもご用意。鮮魚・精肉、日配品・乳製品、冷凍食品・アイスクリームのショーケースに対応しています。【ラインアップ（一部）】 ...

メーカー・取り扱い企業：三洋東海産機システム株式会社

【資料】10～100nmでサイズ制御したMgF2ナノ粒子製品

10nmサイズのMgF2 nanopowdersのSEM観察結果やTE…

当資料では、10～100nmでサイズ制御したMgF2ナノ粒子製品について紹介しています。 10nmサイズのMgF2 nanopowdersのSEM観察結果をはじめ、10nmサイズの MgF2 nanopowdersの二次球形凝集粒子のSEM観察結果や、10nmサイズの MgF2 nanopowdersのTEM観察結果などを掲載。是非ご一読ください。【掲載内容（抜粋）】...

メーカー・取り扱い企業：株式会社希少金属材料研究所

低電圧電子顕微鏡『LVEM25』

ナノ粒子の観察、スクリーニング用TEMとして世界中で使用されています

『LVEM25』は、従来の方法で用意された試料から、高コントラストな画像を提供する低電圧電子顕微鏡です。コンパクトな1台の機器で3つのパワフルなイメージングモードが使用可能。モードの切り替えはソフトウェアを介して簡単に操作ができ、同じ関心領域をTEM, STEM, EDモードで迅速に画像化できます。【主な技術的特長】 ■コンパクトデザイン ■特別な施設不要：さまざま...

メーカー・取り扱い企業： FITリーディンテックス株式会社

【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

ウェハ・チップを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】GaNナノ粒子の御紹介

「GaNナノ粒子のTEMによる結晶縞の模様」など、写真を用いてわかりや…

当資料は、希少金属材料研究所が取り扱う『GaNナノ粒子』についてご紹介した資料です。ナノ分散液体をTEM観察用メッシュ上に分散させた際にナノ粒子が強く凝集してしまい、鮮明な観察が困難でした。しかし、格子縞から粒径は、10nm程度で、電子線回折図形に明瞭に回折斑点が認められることから、粒子は結晶でした。是非、ご一読ください。【掲載内容】 ■GaNのナノ結...

メーカー・取り扱い企業：株式会社希少金属材料研究所

【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン（加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析

ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

透過型電子顕微鏡（TEM）はμm～nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST