【納入実績】計測・制御機器　イメージセンサ検査用 標準光源装置

半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。

CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）

山田光学工業株式会社　事業紹介

100年もの伝統と最新鋭の加工技術から生み出される精密光学素子

山田光学工業株式会社は、高精度非球面反射鏡を専門とする光学メーカーです。 楕円面反射鏡、放物面反射鏡、大口径球面反射鏡などの平面鏡等の光学部品を はじめ、各種光源装置、分光器用光学装置、光学ユニット等の光学機器の 製造販売を行っています。 材料の成形から加工、コーティングまで一貫した生産が出来、多種多様な 光学素子の製造が可能なため様々なニーズにお答えすることが可能です。 半導...

メーカー・取り扱い企業： 山田光学工業株式会社

1インチ干渉計『KNC-1』

生産現場での小径レンズ検査に適しています！

1インチ干渉計『KNC-1』は、小型光学部品の面検査を製造現場で 誰でも簡単に行えるコンパクトなニュートンチェッカーです。 コストパフォーマンスに優れ、どこにでも運べる 現場に好適な測定ツールです。 オプションにて干渉縞解析装置を接続可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■口径φ1インチの上向き小型干渉縞検査装置 ■波長は一般的なHe-Neレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清原光学

〇特集〇検査効率を最大化！広く、細かく、早くを実現したい方へ

省力化、省人化、生産性アップ等、多様なニーズに好適な、高解像度・高速取…

市場の製品ニーズの多様化に伴い、省力化、省人化、生産性アップ、人的ミスを減らして品質価値を高めたいなど、検査設備/装置に対しても仕様の多様化、生産性向上、短納期化が求められています。 それぞれ、検査の正確性はもちろんのこと、近年のIC製品の微細化に伴い、検査用として取り扱う画像も高精細化しているため、検査速度の向上、検査精度が課題の一つとなっています。 株式会社シーアイエスでは、多様なニーズに...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

【用途別事例】半導体製造装置用光学部品

半導体製造装置用光学部品に使用する事が出来るコーティング製品群です。

【対応可能光源】 ■超高圧水銀灯（g/h/i-line）対応ARコート ■超高圧水銀灯（g/h/ｉ-line）対応AL増反射ミラー ■365nmHR ■無偏光ビームスプリッター（ハイブリッドタイプ） ■780nmPBS ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...※詳細はお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社