【納入実績】計測・制御機器　イメージセンサ検査用 標準光源装置

半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。

CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）

カルマン渦式流量センサフルーレックス 「WFK2シリーズ」

IO-Link対応のカルマン渦式水用流量センサフルーレックス WFK2…

250L/minと幅広い流量レンジに対応 ■水温測定機能：水温センサを別途設置する必要が無く、設置スペース、配線工数を削減 ■IO-Link対応：パラメータやイベントデータの伝送可能 ■半導体製造装置の冷却・温度管理として、冷却水の定量的な管理に！ ■ATEX指令に対応可能です。仕様詳細はカタログを確認ください ...

メーカー・取り扱い企業： ＣＫＤ株式会社

【超高周波350kHz対応】MEMSセンサー開発向け加振システム

半導体部品をはじめデバイス製品の開発・出荷検査に最適な加振システム　サ…

【基本スペック】 ・周波数　0.5Hz～350kHz ・加速度　～600m/s2 ・試験品重量　最大25kg ・サイン波、スイープ、フィールドデータ再現加振 ・低周波数／磁場／温度／音響試験機など各種試験と組み合わせ可能 ※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。 【用途例１　MEMSセンサー開発】 350kHzの超高周波数まで対応し、性能評価試験をはじめ...

メーカー・取り扱い企業： エフ・アイ・ティー・パシフィック株式会社

【最大5個の試験品を同時に加振】デバイス開発・出荷検査向け加振機

加振周波数100kHzまで　半導体部品をはじめデバイス製品の開発・出荷…

【特徴】 SE-16、SE-11シェーカーは試験品をマウントする台座を直接加工することができ、同時に5つまでセットできます。 台座を直接加工することにより冶具を取り付ける必要がなく、高周波数での歪み・共振を低減しています。 【基本スペック】 ●SE-16 ・周波数　5kHz～100kHz ・加速度　～400m/s2 ・試験品重量　～5グラム ●SE-11 ・周波数　1kH...

メーカー・取り扱い企業： エフ・アイ・ティー・パシフィック株式会社

PhotonFirst航空宇宙向け光ファイバーセンシングユニット

航空宇宙産業にフォーカスした高信頼性の歪・温度・振動FBGセンサー計測…

クト（Airbus含む）への参加によりその評価を高めています。同社既発品の流れを踏襲しつつ最新の専用フォトニックICを適用し更なる小型化・高性能化を求めた製品で、既存市場（土木建築、医療機器、半導体製造装置など）での運用実績を重ね、近年は航空宇宙分野へのアプローチを進めています。同社同分野初期の民需成功例としてAirbusでの採用があり、当該技術では世界初の民間旅客機実用搭載となります。これまで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ファーストライト