- 製品・サービス
236件 - メーカー・取り扱い企業
企業
13件 - カタログ
86件
-
-
-
高精度での厚さ測定が可能なＸ線厚さ計(XY軸スキャン)です
『SX-1100B』は、軟Ｘ線(軟エックス線)を利用した厚さ計(膜厚計)です。 シート・板状の物体の厚さ・密度(坪量)を非接触(軟X線)で測定します。 直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、 厚さ・密度(坪量)を算出します。 X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、 空気層－サンプル－空気層と透過する間の減衰を測定し、 サンプルによる減衰が空気...
メーカー・取り扱い企業： ナノグレイ株式会社
-
-
-
-
粉体厚さ計『PosiTector PC パウダーチェッカー』
非接触で硬化前の粉体塗装の膜厚を測定し、硬化後の膜厚を推測します
『PosiTector PC パウダーチェッカー』は、手軽に硬化前の粉体塗装の 厚さを非接触の超音波技術で測定し、硬化後の厚さを計算・表示します。 ASTM D7378準拠小径のチューブ、変型部品、移動部品にも適応。 簡単な較正で、特殊な粉体や母材でも正確に測定できます。 その他、硬化処理前後の粉体塗装の測定を完璧にサポートする 「PosiTector 粉体塗装キット」もご用意し...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社本田ビジネスシステムズ
-
-
-
-
鉄・鋼・アルミニウムなど、幅広い素地に対応
測定範囲は、電磁誘導式：0～2.50ｍｍ、過電流式：0～1.20ｍｍです。 素地補正やデータメモリ機能など、コンパクトながら様々な付加機能 を搭載しています。 ※詳しくは下記の「PDFダウンロード」からカタログをご覧下さい。 「お問い合わせ」からお見積り依頼も可能です。お気軽にどうぞ。...商品コード：20377 ※お問い合わせ時はこちらの番号をお伝えいただけるとスムーズです...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス
-
-
-
-
回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …
『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller Matrix、偏光解消度、反射率・透過率、ドーパント濃度、 リタデーション(R0、Rth)などに関する検査にも...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はD…
世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。 化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能です。...【特徴】 ■非接触CV/IVインライン測定 ■超高感度汚染管理（E8レベル鉄濃度測定） ■パタ...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
Cuスペクトルの複合解析
Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 以下、各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。）...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
ステンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm～数十nmの酸化物の分布を得ること...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
「一台十役」の変身型計測機で、検査測定を楽に！ 膜厚計選定のポイント…
世界(ISO,ASTM,JIS)が評価している DeFelsko(デフェルスコ)の膜厚計にイノベーションあり！ 変身型計測機＝ポジテクターシリーズの本体が新しくなりました。 メモリー容量が増え、画面も拡大しタッチ操作対応、高品質筐体でIP65の防塵防水性です。接続するプローブを交換するだけで以下の計測機などに変身可能です。試用可能なモデルも多数ありますので、お気軽にご相談ください！ 【 ...
メーカー・取り扱い企業： コーテック株式会社
-
-
-
-
様々な材料の厚さを測定
超音波厚さ計/M1458TS-60FSは、様々な金属材料や非金属材料(ガラス、セラミック、プラスチックなど)の 厚さ測定が可能です。 超音波が伝搬する色々な素材の厚さを簡単に測定することが出来ます。 最大10,000点の測定データを保存することができ、設定条件も100点の保存が可能です。 厚さ測定や腐食・減肉検査に最適で、コーティングキャンセル機能(塗装膜を測定せずに母材のみを測定)を ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社シロ産業
-
-
-
-
用途に合わせて変身！操作方法は変わらず膜厚計・結露計・電気伝導度計など…
【取り扱い製品（一部）】 ・金属素地用プローブ群 6000シリーズ ・超音波多層膜厚測定 200シリーズ ・磁気誘導膜厚計 ・磁気誘導＆渦電流自動切替膜厚計...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社本田ビジネスシステムズ
-
-
-
-
TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価
大気下におかれた金属銅（Cu）の表面は自然酸化膜で覆われており、このような銅表面は大別して「Cu」「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」の状態にわけられることが知られています。 市販の標準品である「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」粉末をTOF-SIMSにより深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを用いて、...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
テフロンコーティングを長くお使い頂くためには選定や加工技術だけでなく、…
■塗膜外観検査 加工塗膜を拡散昼光（相当）の下で目視により観察します。 原則として、膨れ、割れ、はがれ（層間剥離含む）、素地露出、すけが発 見された場合を不合格とします。 ■膜厚測定検査 膜厚とは、素地板及びその上に乗せた標準板を基準にして調整した膜厚計 を用いて測定した加工塗膜の厚さのことをいいます。 ■ピンホール検査 ピンホールとは、電気的に検出できる可...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社吉田ＳＫＴ
-
-
-
-
コーティングの膜厚を非接触で一瞬で測定可能なソリューション
測定原理は熱反射に類似しており、光を対象物に照射させ、熱の伝わる伝搬時間をコーティング厚さへ変換します。 特定の素材や材料に左右されず測定が可能で、紛体・液体も問わず測定が可能です。 ...・非破壊、非接触でコーティング厚さの測定が可能 ・金属、樹脂、木材、コンクリート等材料に左右されず、測定が可能 ・コーティングの状態（紛体・液体）を問わず測定が可能 ・曲面やエッジなどの測定しづら...
メーカー・取り扱い企業： エフティーエス株式会社
-
-
-
-
塗膜・塗装の品質管理、膜厚管理に携わる方へ。膜厚計の選択ガイドや、膜厚…
身近な測定器でありながら、誤解や誤用の多い膜厚計。JIS K5600の『膜厚』の規定も変わり、運用規定の更新が必要になってきています。 本ハンドブックでは、そういった状況において『勝ち残る』ための、塗膜・フィルムの品質管理、膜厚管理に関する情報をさまざま収載しております。 【掲載内容】 ■汎用・ハンディーな膜厚計のモデル選択ガイド ■汎用的に用いられている膜厚計の種類 ■膜厚計の...
メーカー・取り扱い企業： コーテック株式会社
-
-
-
-
iPS由来心筋細胞 収縮力測定システム FLEXcyte 96
ランゲンドルフ法を最新のハイスループット技術に転換し、心臓組織本来の環…
従来のランゲンドルフ法を最新のハイスループット技術に転換したFLEXcyte 96 は、細胞毒性のわずかな反応を見逃すことなく、慢性期・急性期を問わず、心毒性・安全性評価、薬剤スクリーニングのための心筋細胞の収縮力（mN/mm²）を、心臓組織本来の環境に類似した生理学的条件下で、96 ウェル同時に測定できます。 ■ 96ウェル同時測定 ■ ラベルフリー測定 ■ 長期モニタリング可能 ■...
メーカー・取り扱い企業： ナニオンテクノロジーズジャパン株式会社 東京ラボ（東京女子医科大学内）
-
-
-
-
FastGateインライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置ECV-2500
FastGate インライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置
ＵＳＬ（極浅層<40nm）のイオン注入、低ドース・イオン注入のドース量モニタリング、極薄酸化膜（<20Å）の電気的膜厚測定 SiON 膜，High k膜の誘電率測定、Epi の 抵抗率測定などが可能です。 主な測定・評価項目 ・電気的膜厚（CET/EOT) ・フラットバンド電圧（VFB) ・界面準位等...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
100gを切った！6cmを切った！ でもあれもこれもできる高機能…し…
●コストパフォーマンスにたいへん優れたモデルです。 ●コンパクトデジカメサイズ…かわいい膜厚計です。 ●2点調整対応です。 ●統計機能にも対応しています。...100gを切った！※1 6cmを切った！※2 でもあれもこれもできる高機能※3 …しかもデュアルモード！※4 ※校正証明書(3点セット)付 ※1：電池除く本体重量。 ※2：持ちやすさの目安となる本体幅寸法。 ※3：2点...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社シロ産業
-
-
-
-
円筒振動面を有するスピーカーの周波数特性に対する膜厚さの影響
技術者必見！スピーカーに用いたピエゾフィルムの膜厚の違いが特性に及ぼす…
当資料は、高分子圧電体を用いた円筒振動面を有するスピーカーの 周波数特性に対する膜厚さの影響について紹介しています。 ピーク及びディップ、トランスの影響と周波数特性など様々な測定結果及び 考察を、図と表を用いて解説。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験及び考察 ■今後 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレハトレーディング
-
-
-
-
円筒振動面を有するスピーカーの周波数特性に対する膜厚さの影響
【技術資料進呈】膜厚の違いが特性に及ぼす影響について議論する資料のご紹…
当資料は、高分子圧電体を用いた円筒振動面を有するスピーカーの 周波数特性に対する膜厚さの影響について紹介しています。 ピーク及びディップ、トランスの影響と周波数特性など様々な測定結果及び 考察を、図と表を用いて解説。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験及び考察 ■今後 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...
メーカー・取り扱い企業： エルメック電子工業株式会社
-
-
-
-
世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…
■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...【アプリケーション】 ・Low-k膜の細孔率測定 ・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定 ・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
半導体・電子部品・フィルムなど幅広い製品の製造工程で活躍。多機能型の接…
『MFMシリーズ』は、独自開発の特許技術を搭載し、電子部品等の強度試験や ワイヤーボンディングの引張試験など様々な測定が行える試験機です。 米国特許取得の垂直位置移動技術「VPMテクノロジー」でダイ/チップの薄厚化に対応し、 100μm厚のチップでも素子破壊や位置ずれを発生させずシェア試験が可能。 また、「パッシベーション（切削せん断）試験」技術により、 表面保護膜（パッシベーション...
メーカー・取り扱い企業： 千代田交易株式会社
-
-
-
-
-
XRR：X-ray Reflectivity
XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 （2～300nm 程度） ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下） ・非破壊で分析が可能 ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
光学干渉式膜厚測定により、非接触で高速計測が可能。表面または中間層の二…
昨今のLED測定アプリケーションはその使用マーケットの拡大に伴い多種多様化しており、既存の測定装置では用途に応じた対応が困難となってきています。 またLED関連企業の多くは技術的な難しさに加え、測定という新たなプロジェクトに対し多額な予算を準備することに戸惑いを持っており、LED及びLEDディスプレイの測定への高いハードルとなっています。 弊社はその現状を踏まえ、LED測定用モバイル分光測定装...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社スペクトラ・コープ
-
-
-
-
これ1つあれば、クロスカット試験、碁盤目試験が全て行えるコンプリートキ…
クロスカット試験、碁盤目試験と250μm以上の厚膜に対して付着試験で行うXカット試験(角度30°）も行えるマルチカッターガイド。これ一枚で、1mm間隔×11本（100マス試験）、1mm間隔×6本（25マス試験）2mm間隔×6本（25マス試験）、1.5mm間隔×11本（100マス試験）、3mm間隔×6本（25マス試験）,Xカット試験（角度30°）が可能です。その他に、未乾燥塗膜の膜厚を測定するウエッ...
メーカー・取り扱い企業： オールグッド株式会社
-
-
-
-
MEGA社（伊）製 ガスクロマトグラフィー（ＧＣ）用各種カラム
価値ある商品をお客様が納得のいく価格にてご提供いたします。カラムの内径…
MEGA社は、Fused Silica GC Capillary Columnsの世界的権威であるKurt Grob博士と共同で開発したGCカラムを１９８０年以来世界中へ製造・販売しています。その技術力をベースに「Grace社GCカラムの製造販売権」を取得し、更に製品群を広げています。 性能及びラインアップがお客様の多様なニーズを満たす事は当然ですが、更なる特長はその「価格設定」です。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社トムシック 本社
-
-
-
-
トレンチ深さ測定装置
パワーデバイスのディープトレンチやTSV形状、DRAMのキャパシタートレンチの深さ、CD測定、リセス測定を非接触で測定。独自技術MBIR（Model Based Infrared)により高アスペクト比のトレンチの測定が可能。また、エピ膜のドープ濃度の縦方向プロファイルの測定にも対応。 ...広波長帯域の赤外線を干渉計に導き変調する。変調された赤外線を薄膜表面に照射すると、薄膜各層の界面から（...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
人の感知出来ないナノレベルの質量測定が可能な【高品質】【高感度】【高安…
私達ピエゾパーツは、膜厚モニター水晶専門メーカーとして歩んでまいりました。 弊社は水晶センサーの製造を本事業とし 現代のエレクトロ二クスには欠かせない部品として 国内はもとより海外でも製品をご利用頂いております。 現代の製造プロセスが多様化していく中 「Good Sensor、Good Control」というビジョンのもと 少しでもお客様のご要望にお応えする為に 全社一丸とな...
メーカー・取り扱い企業： ピエゾパーツ株式会社
-
-
-
-
大気中で遠紫外線領域(4.00-7.00eV)での光電子測定が可能な光…
『AC-3』は、最高被占軌道近傍の状態密度や仕事関数、イオン化 ポテンシャルを大気中で簡単に測定可能な大気中光電子分光装置です。 またナノメートルオーダーの極表面の情報や極薄被膜の膜厚(0-20nm) を測定することもできます。 【特長】 ■真空中に持ち込めない、粉状や液体状の試料も測定可能 ■1回の測定時間はわずか5分程度 ■イオン化ポテンシャルを大気中で簡単に測定 ■膜...
メーカー・取り扱い企業： 理研計器株式会社 本社
-
-
-
-
導電性カーボンブラック分散液『T-NEX導電材料分散体シリーズ』
各種素材へ導電性、黒着色、遮光性の付与！ 溶剤系・水系どちらも対応可…
『T-NEX導電材料分散体シリーズ』は導電性を持った各種カーボンブラックの分散液です。添加することにより、導電性・遮光性・黒色を付与することができます。お客様のご要望に応じて、カスタマイズ化(要望の溶媒系、pH領域、分散度)することができます。また、各製品サンプルの提供も行っております。 【特長】 ■高導電性 ■高分散性 ■カスタム性 ＊詳細はカタログ請求をしていただくか、ダウン...
メーカー・取り扱い企業： 大成化工株式会社 分散・コーティング事業部 成田事業所
-
-
-
-
TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察
低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます
密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能
有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし実用化が進みつつあります。発光層では発光効率を高めるために、ホスト分子中にゲスト分子がドーピングされています。今回、有機EL表示素子において赤色画素の発光層材料の同定を行いました。また、新規に段 差計を用いた発光層の膜厚評価や発光層中におけるゲスト材料の定量を行いました。発光層中のゲスト分子の定性・定量ならびに発光...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
塗料のぬれ膜厚を測定するロータリ形ウェットフィルム膜厚計です。
・塗料のぬれ膜厚を測定するロータリ形ウェットフィルム膜厚計です。 ・測定法1Bの方式1により、塗料のぬれ膜厚を測定するものです。 ・3つの輪からなり、内側の輪は外側の輪より小さく、かつ偏心しています。 ・ゲージを塗膜面に押し付けます。回転軸をつかんで一方向に転がして持ち上げ、内側の輪がぬれている最も高い値を読み取ります。 ・もう一方向にも転がして測定し、平均値をぬれ膜厚として算出します。 ＜参考...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安田精機製作所
-
-
-
-
分散・混合がうまくいかない・・・。危険物を取り扱える量産設備がない・・…
度計（レーザー回折・動的散乱）・EDX-SEM・光学顕微鏡・粘度計(E型、BM型、BH型、ザーンカップ）・色差計(反射)・測色計(透過・反射)・グロスメーター・ヘイズメーター・屈折率計・接触角計・膜厚測定器・表面形状測定機(膜厚測定)・スピンコーター・グラビア試験器・バーコーター・アプリケーター・UV照射機(メタハライド・高圧水銀灯)...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社トクシキ
-
-
-
-
薄膜の評価に最適な連続加重式
被膜の付着力を連続加重引掻抵抗で評価 薄膜の評価に最適な表面測定器 ...【特徴】 ○低荷重領域での摩擦抵抗から引掻抵抗、剥離抵抗までの 微小変化をダイレクトにとらえることが可能 ○摩擦摩耗試験に於いては、一定荷重状態で試験片の往復運動により ボール圧子から摩擦抵抗力を検出 ○連続加重により試験片と引掻針との摩擦抵抗から 引掻抵抗、剥離抵抗までを記録 ○抵抗力は、引掻...
メーカー・取り扱い企業： 新東科学株式会社 本社
-
-
-
-
解析波長190nm(DUV)~3,500nm(NIR)、ユーザー要求に…
回転検光子(偏光検出)の駆動に独自の方式を採用した分光エリプソメーターです。膜厚及び光学定数(屈折率、消衰係数)の同時解析ソフトウェアを独自開発し、長年ご利用いただいているユーザーからの要望を取りれた改版を重ね、第4版となっています。このソフトウェアは解析に便利な[対話モード]と繰り返し測定に適した[レシピモード]があります。また、膜厚の均一性評価に役立つ膜厚分布の自動測定も行えます。...ドイツ...
メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社
-
-
-
-
酸化物半導体のXRD・XRR分析事例
透明酸化物半導体であるIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいます。 IGZOは膜の組成・酸素欠損の有無・結晶性で大きく特性が変化する材料でもあり、膜質との相関を考慮することが重要です。加熱温度の異なる3種類のIGZO薄膜の結晶性・膜厚・膜密度をXRD・XRRにて測定し、比較を行った事例をご紹介します。高温では結晶化が進み、膜密度が高くなっている様子を非破壊で確認することが...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
複雑な形状も均一な膜厚処理が可能！従来のテクノフォス処理に抗菌性を付与…
『テクノフォスAg』は、従来のテクノフォス処理に抗菌性を付与した 無電解めっき処理です。 非粘着性や撥水性など性能はテクノフォスと同等の性能。 複雑な形状に対しても均一な膜厚で処理が行えます。 また環境負荷物質などは使用していません。 【特長】 ■テクノフォス処理に抗菌性を付与した処理 ■非粘着性や撥水性などテクノフォスと同等の性能を発揮 ■複雑な形状に対しても均一な膜...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社旭プレシジョン 京都西工場
-
-
-
-
球体形状試料の評価事例
AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。...半導体材料分析項目 原子レベルの構造観察、結晶構造、転位密度、膜厚 表面形状、断面構造(膜厚) 結晶性(面方位)、積層膜の周期構造 表面組成、結合状態、深さ方向分布 不純物濃度、深さ方向分析 結晶構造、応力歪 構成元素、組成 表面のヤング率、硬度...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
-
-
-
-
最短半日見積り／「材料持ち」「全加工」「表面処理込み」で部品1個から調…
光学機器は、光の直進や屈折、反射、干渉などを利用する精密機器です。 その部品加工には高い精度が求められます。 また、光の乱反射や散乱を防ぐ為、黒色の表面処理が必要になります。 ◎液晶製造装置・半導体製造装置 ◎カメラの内外装部品 ◎測定機器部品 等 処理に於いては、例えば、黒アルマイトで膜厚管理が難しい 剥がれ・色抜けがある・・・という事もあります。 その場合、低温黒色クロム処理なら薄膜（...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社 営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)
-
-
-
-
Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出
Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。）...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせくだ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
PM2.5環境大気モニタリング用の高純度な薄い膜です！
『PM2.5エアーモニタリングメンブレンフィルター』は、 風袋質量が低く正確な重量測定が可能なフィルターです。 膜は、化学的耐性のあるポリプロピレン支持リングを備え、 連続した番号が付けられております。 接着剤不使用で、波打ちや反りがなく、自動ろ過装置にも ご使用いただけます。 【特長】 ■各メンブレンは、化学的耐性に優れたポリプロピレン支持リング付 ■連続番号が打たれ...
メーカー・取り扱い企業： GVSジャパン株式会社
-
