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28件 - メーカー・取り扱い企業
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携帯電話基地局の評価に最適。700-900, 1800-1900, 2…
【特徴】 ・携帯周波数プローブ ・等方性&真の実効値測定 ・高感度0.04V/m ・高バンド間減衰 ・電界測定...【主な仕様】 周波数レンジ:700-900, 1800-1900, 2100, 2600 センサータイプ:Isotropic, RMS 測定レンジ:0.04 - 65V/m (RMS) ダイナミックレンジ:>64dB 感度:0.04V/m 解像度:0.07dB ...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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WiFi 2.45GHzバンド 電界測定
【特徴】 ・WiFi 2.45GHz周波数プローブ ・等方性&真の実効値測定 ・高感度0.04V/m ・高帯域外減衰 ・電界...【主な仕様】 周波数レンジ:WiFi 2.45GHz センサータイプ:Isotropic, RMS 測定レンジ:0.04 - 65V/m (RMS) ダイナミックレンジ:>64dB 感度:0.04V/m 解像度:0.07dB 帯域外減衰:>28...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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わずかサイズ3cm2の電磁界センサーで、電界と磁界の両方を高精度に測定…
IEC/EN62233, IEC/EN62822, IEC/EN62311規格に適合。小サイズ、空間分解能が重要な測定に最適。 【主な特徴】 ・わずか3cm2の電磁界センサーで電界・磁界を高精度に測定 ・等方性&真の実効値測定 ・スペクトラム解析 ・FFTモード搭載 ・国際規格IEC/EN62233, IEC/EN62822, IEC/EN62311に適合 ...【主な仕様】 ...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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高感度0.018A/m、等方性・RMS測定、国際標準適合の磁界プローブ…
Wavecontrol社から新しいHフィールドブロードバンドプローブ WPH1000 登場!高感度0.018A/m、等方性・RMS測定、国際標準適合の磁界プローブ WPF1000。 【主な特徴】 ・高感度 ・等方性&実効値測定 ・優れた減衰 ・国際標準適合 ...【主な仕様】 周波数レンジ:30MHz - 1000MHz センサータイプ:Isotropic, RMS 周波数...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!炭素材料の有効な評価手法を紹…
「ラマン分光法」は、炭素材料の構造を敏感に反映することから、 炭素材料の有効な評価手法となっています。 レーザー光を物質に照射した際に、物質から放出されるラマン散乱光を 利用した分析手法であり、ラマン散乱光は、その物質を構成する分子の 振動・回転に基づいて決まった振動数だけずれて現れます。 このズレの程度を用いて、分子構造解析を行います。 DLC、フラーレン、グラファイト、カー...
メーカー・取り扱い企業: イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部
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SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…
他手法では評価が難しい半導体基板中のH,C,N,Oを1ppm(約5E16atoms/cm3)以下まで、Fを1ppb(約5E13atoms/cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例(図1)とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します(表2)。III-V族半導体以外にも、金属膜・絶縁膜など各種材料で標準試料をとりえ揃えており、高感度な定量分析が可能です。半導体基...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SRA:広がり抵抗測定法
1. 斜め研磨した試料面に2探針を接触させ直下の広がり抵抗(Ω)を測定する 2. 標準試料の測定より校正曲線*)を作成し、それを用いて抵抗を比抵抗(Ω・cm)に換算するまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う *)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面方位によって異なります 3. 比抵抗とキャリア濃度の関係式*)を用いてキャリア濃度(/cm3) を算出する...詳しいデータはカタ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 テラヘルツ分光によって得られる吸収スペクトルは、水素結合や分子間相互作用に関連した分子間振動を含む分子全体にわたる振動を反映しており、ピークの帰属が複雑かつ難解である事が多い。本稿では、分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計算を用いて詳細...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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JIS P8131 ミューレン高圧形試験機による破裂強さ試験方法
ミューレン高圧形試験機を用いて紙・板紙並びにライナー及び段ボールの破裂…
JIS P8131の概要: ・この規格はミューレン高圧形試験機を用いて破裂試験強さ350kPa(3.57kgf/cm2)以上、5500kPa(56.1kgf/cm2)以下の紙・板紙並びにライナー及び段ボールの破裂強さ試験方法について規定しています。 ・また、この規格は段ボールのような破裂強さの強いものに使用される紙及び板紙のうち250kPa以上、350kPa 未満の紙及び板紙に適用してもよ...
メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所
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ラマンイメージングによる多層フィルムの構造解析事例をご紹介します。
電子機器や食品包装などに使用されているフィルムには、ガスバリア性、柔軟性などの機能を有するために、複数の層を積層した多層構造のものがあります。フィルムの各層の組成を把握するには、ラマン分光分析が有効です。 ここでは、ラマンイメージングによる多層フィルムの構造解析事例をご紹介します。 【分析試料】市販圧力調理バッグ 【分析方法】ラマンイメージング 励起レーザー波長:532nm...【分析結果】...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター
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Wavecontrol社 低周波等方性電磁界プローブ WP400
広周波数範囲1Hz~400KHz 等方性電界&磁界測定プローブ。スペク…
パリの空港でも採用された製品です。 【特徴】 ・電界と磁界の高精度な測定が可能 ・広周波数範囲と高ダイナミックレンジ ・等方性&真の実効値測定 ・スペクトラム解析 ・FFT処理により3軸すべてにおいてセレクティブおよびブロードバンド測定 ・国際標準に適合 ...【主な仕様】 周波数レンジ:1 Hz - 400 kHz センサータイプ:Isotropic, RMS 測定:電...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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高性能 携帯電話プローブ 900/1800/2100バンド電界測定
【特徴】 ・特定の携帯周波数プローブ ・等方性&真の実効値測定 ・好感度0.04V/m ・高インターバンド・アッテネーション...【主な仕様】 周波数バンド:GSM900, GSM1800, 3G, LTE センサータイプ:Isotropic, True RMS 測定レンジ:0.04 - 65V/m(RMS) ダイナミックレンジ:>64 dB 感度:0.04 V/m 分解能:...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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質の高い歩き方とはどのような歩き方なのか。また、衣料によって歩き方がど…
【質の高い歩き方とは】 「代謝アップ歩き」で体脂肪を燃焼しやすい身体に変えることが出来ると言われています。そのためには質の高い歩き方が求められます。具体的には、主として・背筋を伸ばす・歩幅を広げることが大切です。詳しくは、添付資料をご覧ください。 【質の高い歩き方を得る方法とその効果】 ■太ももの刺激 例えば、太ももを衣料によって刺激する方法が考えられます。 ■歩幅の拡大と筋負担の増...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社HALデザイン研究所
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技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価
エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数(屈折率・消衰係数)や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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世界初!『GPS/3Dジャイロ/3D傾斜/デジタルコンパス/高度/加速…
GPS,3Dジャイロ,3D傾斜,デジタルコンパス,高度,加速度の6つのセンサーを1台に合わせ持つ、最先端技術のGPSロガーで、世界初のスタンドアロンデータロガーです。多種センサー付きであること以外で忘れてはならないのは、そのサイズとデータレートです。約10cmと非常に小さく、重さはバッテリーを含み、たったの88g。データレートは、極めて高く、約35ログ/秒(自由に調整可)です。 GPSロガーの主...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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電磁界プローブ 低周波等方性 WP50 Wavecontrol社
高性能 電界&磁界測定プローブ 10Hz~3KHz
【特徴】 ・電界&磁界測定 ・等方性&真の実効値測定 ・国際標準IEC62110&IEC61786に従った測定 ...【主な仕様】 周波数レンジ:10 Hz - 3 kHz センサータイプ:Isotropic, RMS 測定:電界&磁界一体型測定 周波数応答タイプ:2モード 測定レンジ:フィールド強度モード 電界: 2.5 V/m - 20000 V/m(RMS) ...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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生体材料の切片作製から分析までまとめて承ります
本資料では、マウスの脳・心臓・肝臓・腎臓・歯の組織についてそれぞれ断面切片を作製し、TOF-SIMSでイメージングしました。イメージング領域は約10μm~数cmオーダーまで可能で、着目に合わせて分解能良く分析することができます。生体の各器官に合わせて切片作製を行い、成分をイメージングすることが可能です。また、薬物動態研究や医薬品の研究開発において、生体材料中に投与した成分の分布状態の可視化にも有効...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価
XRFは構成元素の組成及び分布を評価する分析手法です。特徴として測定に際して特殊な前処理が不要であり、1.2mm~数cmの広範囲において、非破壊で測定できる点が挙げられます。 XRFによる元素分析事例として、薬品保存容器の高分子材料に含まれる金属成分に着目して測定を行い、保管期間中に容器表面に付着した金属汚染について調査した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ビル・マンションのオーナー様へ┃外壁の全面打診調査はお済ですか?
費用や工事期間を抑えた『ロープアクセス工法』で、外壁タイルの落下事故を…
令和4年3月・建築基準法の改正により、外壁調査について特定建築物定期調査(1~3年ごと)と 全面打診等調査(10年ごと)を行うことが義務付けられました。 当社は、外壁調査・修繕工事に経験豊富な株式会社SESと業務提携をし、 「ロープアクセス工法」で建築物(1F~15F)の大規模改修工事の際、 外壁仕上げの剥離・劣化調査・修繕プランの立案・修繕工事実施・報告書の作成まで行っています。 仮設足場を...
メーカー・取り扱い企業: ベンチャーマテリアル株式会社
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製品の挙動や緩衝包装のひずみなどを最大1/2000秒で撮影して動画によ…
『JIS Z 0202(落下試験方法)』は金属、木材、段ボール、板紙、プラスチックまたはこれらの組み合わせからなる包装貨物及び容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は自由落下試験機による「垂直自由落下試験」、等価落下試験機による「等価落下試験」、クレーンによる「片支持りょう落下試験」の3通りあります。 試験レベルや試験条件についてはJIS Z 0200試験方...
メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所
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ハンディタイプUV照射装置ハンディキュアラブ【セン特殊光源社製】
最も小型で低価格の紫外線硬化装置【セン特殊光源社製】
従来の熱乾燥などと比較すると、硬化・乾燥までに至る時間が圧倒的に短く、溶剤等の使用量が飛躍的に削減され、「省エネ」「省スペース」や、「環境改善」 に於いてもその特性を発揮し、更に近年UV硬化樹脂の性能が著しく進歩した事で、その用途と市場が飛躍的に拡がっています。...【特徴】 ○UV硬化装置では、一番小型でハンディタイプ ○UV強度は、100Wでも1000W(80W/cm)なみ ○UV硬化技...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体
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検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…
半導体材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン 質量分析(SIMS)が適しています。 SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター
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SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。
当ページでは、SIMS (アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、シリコンへ 砒素をイオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 砒素(75As)はマトリックスであるシリコンと残留ガスである酸素あるいは 水素との複合分子(29Si30Si16O など)が干渉するため、質量分解能が 3190 必要です。 Q ポール型 SIMS では質量分解能が 200 程度しかなく...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター
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SiC基板へアルミニウムをBOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介…
SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、SiC基板へアルミニウムを BOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 SiC 基板は絶縁性が高いため、1次イオンビームを試料表面に照射すると 電荷が蓄積するため正確な測定が出来ません。そこで 1次イオンビーム 照射部分に低速電子ビームを同時照射し、電荷の蓄積を抑制することで 正確な測定が行えるようになりました。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター
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感度を高めてpptレベルの濃度分布を評価します
SIMS分析における検出感度は単位時間あたりの試料のスパッタ量に依存します。元素によりますが、取得する不純物を1元素に限定することで感度が大幅に向上し、5E13 atoms/cm3以下のppt (parts pertrillion)レベルまで評価することが可能となり、IGBTデバイスや高純度ウエハなどの低濃度の不純物評価に有効です。本資料ではSi中の低濃度の不純物について超高感度に評価を行った事例...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSにより染料・顔料由来の分子情報の可視化が可能
カラープリンターは紙表面にインクを用いて印字します。インクには、染料・顔料が含まれており、色により特徴的な分子情報が存在します。この分子情報を可視化することで、紙表面のインク成分の分布や、紙断面においてどの程度の深さまでインク成分が浸透しているかの情報を得ることが可能となります。 以下に、分子情報を可視化したTOF-SIMSによる「紙表面のイメージ結果」をまとめます。 TOF-SIMSは、10...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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膜厚1nm程度のSiON中Nの評価が可能
高感度なSIMS分析が得意とする低濃度領域に至るまで、SiON膜中Nの分布を深さ方向に評価し、N量(単位:atoms/cm2)を高い精度で評価が可能です(図1)。またNをatomic%へ変換(図2)、Nのフィッテングカーブ算出することができ、フィッティングによりNのピーク濃度・深さ・半値幅を算出(図3)することが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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全体像から局所分布までイメージング評価可能
TOF-SIMSでは、μm~cmオーダーまで様々な大きさの試料について質量イメージング分析が可能です。 カプセル剤タイプ薬の断面についてTOF-SIMSによる質量イメージング分析を行いました。断面加工を行い、薬剤全体(約7mm×20mm)とその内部の顆粒一粒(約500μmΦ)に着目したイメージング事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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