『金属検知対応　結束バンド選択ガイド』

PR抗菌・防カビタイプと、ポリプロピレン製の結束バンドの違いが一目でわかる…

『金属検知対応　結束バンド選択ガイド』は、 金属検知に対応した結束バンドの選定に役立つ資料です。 「抗菌・防カビタイプ」「ポリプロピレン製」の結束バンドにおける 湿度、温度、X線での検出し易さ、耐衝撃性などの違いが一目でわかります。 【掲載製品の特長】 ＜抗菌・防カビタイプ　結束バンド＞ 　■食品衛生法に適合 　■材質：金属入りナイロン6.6 　■使用温度範囲：-40～85...

メーカー・取り扱い企業： パンドウイットコーポレーション日本支社

角度分解HAXPES測定

HAXPES：硬X線光電子分光法

HAXPESでは、試料表面から深い位置まで（～約50nm）の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルクの中まで進んでいるような材料の評価に有効です。...詳しくは資...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

リートベルト解析（Rietveld analysis）とは

XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます

リートベルト解析とはXRD（X線回折法）や中性子線回折法の測定データを解析する手法の一種です。既存手法による格子定数・空間群などの同定に加え、試料の結晶構造モデル（候補）がある場合は単位格子内部の原子配置など、より詳細な結晶構造情報を得ることが可能です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202303-01 生体分子間相互作用の総合解析

表面プラズモン共鳴、等温滴定カロリメトリーなど複数の手法を用いた多角的…

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分子間相互作用解析は、生命現象の研究や治療薬の開発において欠かすことのできない手法の一つである。手法によって得られる相互作用の情報は異なり、代表的な手法である表面プラズモン共鳴は相互作用の速度論的パラメータ、等温滴定カロリメトリーは相互作用の熱力学的パラメータを取得でき...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

年間1500検体を測定！『石綿（アスベスト）の測定及び分析』

建材中・空気中どちらにも対応！クロスチェックAランク認定分析技術者が対…

1960～1970年に建設された建物が老朽化し、建て替え、解体する時期にさしかかる『アスベスト平成40年問題』を前にさらにアスベスト分析の需要は高くなると考えられます。 当社では、クロスチェックＡランク認定分析技術者による、建材中及び空気中の石綿（アスベスト）の濃度測定を行っています。 試料のサンプリングは各種採取器、ポンプ等を揃え、一般大気中から石綿除去工事の作業中室内まで、幅広く対...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社兵庫分析センター

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 SiCやGaNより大きなバンドギャップを持つ酸化ガリウム（Ga2O3）は新たなパワーデバイス材料として注目されている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解析、および不純物、欠陥評価を行った事例について紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．試料 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS…

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型２次イオン質量分析法（原理、スペクトル例） RBS：ラザフォード後方散乱分析法（原理、スペクトル例） XPS：X線光電子分光法（原理、スペクトル例） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

分析『石綿（アスベスト）の測定及び分析』

クロスチェックAランク認定分析技術者にお任せ下さい！

当社では、クロスチェックAランク認定分析技術者による空気中の石綿 アスベスト）の濃度測定を行っております。 試料のサンプリングは各種採取器、ポンプ等を揃えており、一般大気中 から石綿除去工事の作業中室内まで幅広く対応しています。 また、吹付け材や建材の石綿（アスベスト）濃度測定も承っております。 回転アナライザ付の分散染色用位相差顕微鏡、X線回折装置、低温灰化装置 等により、含...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社兵庫分析センター

理化学分析

異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います

各種製品の工程検査、不純物分析、クレームの原因調査等に、 当社の長年にわたって蓄積した経験が活かされています。 元素、組成分析をはじめ、化合物の構造解析と同定や、熱分析など、 特に形態観察・表面分析を行う異物分析は多くの実績がございます。 【特長】 ■元素、組成分析 ■化合物の構造解析と同定 ■異物分析(形態観察、表面分析) ■熱分析 ■気体透過率測定 ■一般物性測定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレハ分析センター

日本水処理工業株式会社　劣化診断

人と同じように、設備にも"健康診断"が必要です。各種専門の技術スタッフ…

設備の劣化・老朽化は、私たちの目に見えない所で確実に進行しています。 だからこそ人間と同様に定期的な健康診断が必要となります。 当社は"設備のドクター"として、各種専門の技術スタッフが、 様々な診断機器を手に診断します。 配管の延命、更新時期の決定、漏水原因の調査、詰まりの解消方法など、 様々な対策という"薬"を処方し、設備管理の適切な運営をサポートします。 【特長】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 日本水処理工業株式会社 本社

【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

微小領域のXRD測定が可能

照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所（１）～（3）全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所（１）ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果とよく一致しています。 このように組成や結晶性の異なる数百μmの領域を狙って結晶構造を同定す...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSにおける吸着酸素の影響

XPS： X線光電子分光法

XPSは試料表面(数nm程度の深さ)の組成・結合状態に関する知見を得る手法ですが、イオン照射によるスパッタエッチングを組み合わせることで、試料内部や深さ方向分布の評価も可能です。 但し、スパッタエッチングを伴う評価ではXPSの原理及び測定機構から、吸着酸素の影響を受けて酸素量が本来の組成より過大評価される場合があり、注意が必要です。 酸素が吸着し易い試料(Ti,TiN,AlN等)の評価や微量酸...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定

非破壊で引張・圧縮応力を定量することが可能です

残留応力測定は部材が様々な応力条件下に耐えられるかを調べる重要な方法の一つです。XRD（X線回折法）では、格子面間隔を測定することで残留応力を求めることが可能です。本資料では引張試験用にアルミニウム板の左右をＶ字加工した試料を作製し、引張試験用装置で引張負荷を印加する前後の残留応力の比較および、印加後の試料で残留応力の分布を確認した事例について紹介します。なお、残留応力値はsin2ψ法を用いて求め...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

ppmオーダーの微量金属も評価可能です

各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS：X線光電子分光法など

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料 　剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料 　開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料 　Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。......

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価

多点マッピング測定により膜厚分布を可視化

蛍光X線分析（XRF）では、元素分布や膜厚の簡便な評価が可能です。 本事例では、金属薄膜の評価事例として、4inchのSiウエハ上のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fundamental Parameter)法を用いてAu膜厚を算出し、測定座標より膜厚分布の評価をすることが可能です。...詳しい...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

リバースエンジニアリング Plus　車載・医療・産業から民生まで

設計開発の効率を加速！現品をお預かりさせていただければ、あとはアウトプ…

リバースエンジニアリング（リバース解析／ティアダウン）の受託サービスを提供しております。 自動車・車載・医療・ヘルスケア・歯科・産業・民生機器・各種電源等、幅広いジャンルを対象にご利用いただいております。 競合他社製品の先行技術調査やディスコン（生産中止）対策の解析など、様々なご要望にお応えしております。 (例：サンプル基板のレイヤ出し・回路図作成等) お客様の製品開発を当社各...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 シミュレーション技術の向上によって、物性値を推測する技術が発達している。一方で、推測した物性値が現物の挙動と異なる場合も多い。この原因のひとつとして、シミュレーションに用いるパラメータが使用する材料のものと相違していることが考えられる。本稿では、近年注目の新素材であるセルロースナノファイバー（CNF）を用いた複合材料について、CNFの配向および複合材料の線膨張係数を、実測値とシミュレー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［C-SAM］超音波顕微鏡法

C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。...音波を用いることから試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能です。空気との界面での反射が大きいこ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【材料・不良解析】有機無機組成分析

試験後の潤滑油劣化を分析！幾つかの分析を組み合わせて劣化度合いを評価で…

ミツバ環境ソリューションでは、『有機無機組成分析』を行っております。 FT-IR分析をはじめ、py-GCMS分析、熱分析装置各種（DSC、TGA、TMA）を使用。 FT-IRだけでは判断が難しい有機材料もGCMS分析をすることによりポリマー材質、 添加剤等の情報が得られます。 また、「金属成分分析」ではXRF分析、原子吸光分析、重量法等を用いて、 定性分析、定量分析を実施いたしま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション

技術資料『表面分析の概要』

代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

技術資料『表面分析の概要』は、近年、製品開発や不具合の対応などで益々重要になっている、表面や界面の構造・組成の把握に用いられている、様々な「表面分析方法」について掲載した資料です。 本資料では、表面分析の基礎の基礎として、代表的な表面分析であるEPMAやAES、XPS、SIMS、TOF-SIMSを簡潔に解説しています。 【掲載内容】 ■表面分析の種類と特徴 　・EPMA 　・AE...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニケミー

マイクロESCAによる分析 事例集

400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載…

当事例集では、400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）を マイクロESCA（Quantum-2000）により分析した結果を紹介しております。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果 二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を 利用してメッシュ間距離などを測ることができます。 【掲載概要】 ■マイクロESCAによる...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価

基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

角度分解XPS（ARXPS）はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜（数nm程度）のデプスプロファイル評価に有効です。 本...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし、実用化が進みつつあります。有機ELデバイスは有機膜を積層させて作製しますが、有機膜積層状態での有機膜分析を行うことは困難でした。今回、XRR法を用いることによって、積層状態のまま、有機膜の膜厚測定および密度測定を行うことが可能となりました。 結晶質、非晶質を問わず、積層膜の膜厚および密度の分析が可能です。...詳...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較

XPS：X線光電子分光法　AES：オージェ電子分光法

XPSとAESは表面敏感な分析手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能となります。 深さ方向分析を行うにあたり、測定したい領域やサンプルの材質に応じてXPSとAESを適切に使い分けることが、目的に沿った分析を行う上で重要です。 XPSとAESの深さ方向分析の特徴について、SUS不動態膜の分析を例として比較します。...詳しいデータは...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

LEDやパワーデバイスに用いられるGaN膜について、XPSを用いて組成・結合状態を評価した例を紹介します。成膜条件や表面処理等により、組成や結合状態がどのように変わるのかを把握しておくことは、プロセス管理等に有効です。 評価の際は、目的に応じて使用するX線を適切に選択することが重要です。着目ごとの測定条件を併せてご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価

X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例

ポリウレタンは高い反発弾性が特徴の樹脂材料です。そして、ポリウレタン製品の一種である硬質ウレタンフォームは住宅用の断熱材などに利用されています。 本事例では、板状の硬質ウレタンフォームについて、X線CTを用いて内部の空隙の形状を観察しました。 その結果、内部に多数存在する個々の空隙の形状を確認することができました。さらに、得られたデータを用いて空隙率の定量的な評価を行いました。 測定法：X線...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

放射光を用いた軟X線発光分光（SXES）は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度（pDOS）を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い（＜1atomic%）などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【無機分析】

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 蛍光X線分析、ICP-O…

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 ・無機分析とは ・主要な分析手法の比較（特徴、長所、短所） 蛍光X線分析(XRF)、ICP発光分光分析(ICP-OES)/ICP質量分析(ICP-MS)、 イオンクロマトグラフィー(IC)：原理と装置、試料、測定の流れ、スペ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

デバイス内部の異常を非破壊で評価します

外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理

XPS：Ｘ線光電子分光法

XPS分析では評価に使用する光電子ピーク*以外に、他軌道からの光電子ピークや、X線励起のAugerピーク等も検出されます。元素の組み合わせによっては、これらのサブピークが目的のピークに重なって評価を妨害することがあります。 *通常、最外殻に近い内殻準位から放出された、強度の高い光電子ピークを使用します。 XPS分析の定量計算では、このような妨害ピークについて、主として以下の2方法による除去計算...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価

薄膜成分の付着量を試料間で比較

蛍光X線分析（XRF）では、元素分布の簡便な評価が可能です。 本事例では、蒸着装置を用いて任意量のAuを成膜した4inchのSiウエハA・Bを試料として、Auの分布および総付着量の比較を行いました。 面分析の結果より、Auの分布状態が確認できました（図1～4）。また、各画素から得られたXRFスペクトルのAu強度より付着量を比較し、ウエハBはAより多いことを確認しました（図5）。...詳しいデータは...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST